Magic-Ray炉后AOI使用手册-A1.pdf - 第18页
炉后 AOI 手册 18 7 ．新建标识： 单击此图标时 ，会展开标志模板 库，其操作与新建 IC 方 法一样。 此功能主要作用是 增加 Mark 点 ， 可对整板或子板进 行整体较正， 具体说明详见 第二章： 算 法说明 。 8 ．新建坏区标记： 单击此图标时 ，会展开坏区标记 模板库，其操作与 新建 IC 方法一样。 此功能主要作用 是增加坏板识别点 ， 识别到 为坏板时， 此板所 有不良不输出到维 修站， 具体 说明详见 第二章：…
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1.2.4 新建项目模块：
此模块是模板库模块，主要功能是手动增加及更换元件（无 CAD 文件时），具体说明如下
1．新建 IC：
1）单击此图标时，会展开 IC 类元件模板库，具体界面如下
2）当光标落在某一元件模板子库上时，会在界面下方显示此元件子库的具体图片，如上图
中所示。
3）单击此元件子库时，此元件模板将会被增加进当前的 FOV 中，点中此元件的范围窗可整
体拖住此元件模板到对应的元件处，此元件增加完成。
2．新建 Chip：
单击此图标时，会展开 Chip 类元件模板库，其操作与新建 IC 方法一样。
3．新建引脚片式元件
单击此图标时，会展开引脚片式类元件模板库，其操作与新建 IC 方法一样。
4．新建插针：
单击此图标时，会展开插针类元件模板库，其操作与新建 IC 方法一样。
5．新建组合逻辑元件：
单击此图标时，会展开组合元件模板库，其操作与新建 IC 方法一样。
此功能主要作用是对应一码多封料（此处可贴多种封装的物料），具体说明详见第二章：算
法说明。
6．新建正反面标志：
单击此图标时，会展开正反面标志模板库，其操作与新建 IC 方法一样。
此功能主要作用是可通过此识别点来自动调用程序，主要应对正反面自动识别及自动切换程
序。具体说明详见第二章：算法说明。
新建 IC
新建引脚片式元件
新建组合逻辑元件
新建窗口
新建标记
新建条码
新建位置检查窗
新建 Chip
新建正反面标志
新建坏板标记
新建子板
新建插针
新建任意位置多件
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7．新建标识：
单击此图标时，会展开标志模板库，其操作与新建 IC 方法一样。
此功能主要作用是增加 Mark 点，可对整板或子板进行整体较正，具体说明详见第二章：算
法说明。
8．新建坏区标记：
单击此图标时，会展开坏区标记模板库，其操作与新建 IC 方法一样。
此功能主要作用是增加坏板识别点，识别到为坏板时，此板所有不良不输出到维修站，具体
说明详见第二章：算法说明。
9．新建条码：
单击此图标时，会展开条码模板库，当光标落在某一条码模板子库上时，会在界面下方显示
此元条码子库的具体图片，单击此条码子库时，此元件模板将会被增加进当前的 FOV 中，
此条码增加完成，编辑界面如下
条码可选择一维条码或二维条码；一维条码可分为短条码和长条码，短条码是条码框长度在
一个 FOV 范围内的，长条码的条码框长度则超出了一个 FOV 的范围；长条码类型可选 39
码、93 码和 128 码（根据具体的条码类型选择）；条码字符数是条码编号字符总数；条码扫
描间距越小测试越精准越慢，反之则越粗略越快。二维码一般选择 data matrix 项。
10．新建子板：
单击此图标时，会增加一个子板窗。调整此窗口的大小及位置，让其将一子板围住，则此范
围内的所有元件检测窗即归属于此子板。
11．新建窗口：
1）点中需增加窗口的元件或任一测试窗口，单击此图标时，会展开引脚片式类元件模板库，
具体界面如下
2）单击需增加的窗口类型，则会在选中的元件的自动检索窗范围内自动生成一个相应类型
的窗口。
12．新建区域检测窗：
单击此图标时，会展开检查窗模板库，其操作与新建 IC 方法一样。
此功能主要是测试某一区域内元件本体中心的直线性及两相临元件本体间的中心间距，增加
此窗口后，窗口内所有的元件将进行直线性及间距检测。
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“元件之间的距离”指两元件中心点的距离，如图 A 元件与 B 元件中
心点所在直线的垂直距离即为直线性波动值（图示的纵向方向距离），若该值在设定的范围
之内，则 OK，否则 NG.直线性探测以首件标准的则是都以第一个元件的中心点作为基准测
量。元件间距测试则是检查相邻两元件的距离（图示的横向方向距离）是否在设定的偏差范
围之内，若在设定范围之内，则结果 OK，否则 NG。这几项有一个测试结果 NG 则区域检
查窗结果 NG。
13.新建元件条码：单击此图标时 ，会展开条码模板库，其操作与新建 IC 方法一样。
14.新建任意位置多件：单击此图标弹出下拉列表，
A.显示方式：
a.只显示任意位置多件检测框（隐藏元件框），b.只显示元件框（隐藏多件检测框）c.都显示
B.启用任意位置测试，则在整个 PCB 板范围生成同等大小的任意位置测试窗
C.关闭任意位置测试，则任意位置测试窗消失
D.添加元件位置不测试，对每个元件添加不检窗，在元件自动检索框基础上往外扩展 5 个像
素生成）
E.删除元件位置不测试，元件自动检索框外围的不检窗消失
F.打开任意位置学习模式，根据测试结果自动生成不检框
G.任意位置参数替换，当前选中的多件检查框的参数替换至其他多件检查框
H.清除所有任意位置不检测窗
1.2.5 对象操作模块：
光源选择
旋转焦点
覆盖当前焦点
替代料
批量替换
拷贝焦点
存为模板
测试焦点
清除测试结果
同类元件测试
一键替换
Debug 调试