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炉后 AOI 手册 58 第 5 节 特殊 CHIP 类元件检查算 法 特殊 CHIP 类元件检查算 法 特殊 CHIP 类元件与常规 CHI P 件算法的区别 在于： 1 ：特殊 CHIP 类元件不进行 焊盘检索，所有检 测窗均跟随元件进 行校正。 2 ：特 殊 CHIP 类元 件与 常规 CHIP 类元 件的 纵向偏 移与 横向偏 移算 法不同 ；对 于其它 检测 项及处理内容 与常规 CHIP 类元件一样。 具体如下： □ 纵向偏…
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错误报告类型：（点此处可选此窗口 NG 后的报错类别信息）
□异物检查（中心）
□纵向搜索
□横向搜索
检测区域 ___像素
符合颜色比例 ___%
连续合格行数>=___ 像素
错误报告类型：（点此处可选此窗口 NG 后的报错类别信息）
跟随对象（备注：如果是 IC 类，此项则是：□跟随引脚编号）
○ 跟随本体
○ 跟随焊盘
○ 不跟随
A 说明：1.抽取对象的特征颜色及亮度。
2.如果测得的颜色在设定的范围内，则结果 OK，否则 NG。
B 说明：1．抽取对象的特征颜色及亮度。
2．以 A 检索到的区域为范围设置检查区域，去除区域指去除四角等距面积。
3．在检测区域内，检测到符合设定的对象后用外接矩形将其包围，再进行以下项目检测：
A.外接矩形纵向长度判定；B. 外接矩形横向长度判定；C. 外接矩形纵横比上限判定；D. 外
接矩形纵横比下限判定；E.颜色比例判定；F.最小线宽（此项一般不用）。如果 A、B、C、
D、E、F 中任何一个 OK 时，则结果 OK；如果全部 NG 时，结果 NG，报锡球错误。
C 说明：点此处可选窗口 NG 后的报错类别信息，如露铜，少锡。
D 说明：1.抽取对象的特征颜色及亮度。
2.选择纵向搜索或横向搜索。
3.检测区域在选定纵向搜索或横向搜索后选定。
4.如果抽取到的颜色满足颜色占比大于设定的百分比，且连续合格行数满足设定的像素值，
则结果 OK，否则 NG。
E 说明：
在此处可选择此窗口跟随哪个校正变量或不跟随即以原始放置位置为准。
E
C
D
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第 5 节 特殊 CHIP 类元件检查算法
特殊 CHIP 类元件检查算法
特殊 CHIP 类元件与常规 CHIP 件算法的区别在于：
1：特殊 CHIP 类元件不进行焊盘检索，所有检测窗均跟随元件进行校正。
2：特殊 CHIP 类元件与常规 CHIP 类元件的纵向偏移与横向偏移算法不同；对于其它检测
项及处理内容与常规 CHIP 类元件一样。
具体如下：
□ 纵向偏移≤___µ
说明（纵向偏移用于检测元件向电极两边（纵向）偏移过大）：
把检索到的元件的纵向中心线，与程序中初始设定的元件窗的纵向中心线之间的偏移量α作
为偏移实测值。如上图中所示，α以微米为单位。如果此实测值小于设定值时，结果 OK；
如果实测值大于设定值时，结果为 NG，报纵向偏移错误。
□ 横向偏移≤___µ
说明：
把检索到的元件的横向中心线，与程
序中初始设定的元件窗的横向中心线
之间的偏移量β作为偏移实测值。如
上图中所示，β以微米为单位。如果
此实测值小于设定值时，结果 OK；如
果实测值大于设定值时，结果为 NG，
报横向偏移错误。
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第 6 节 引脚片式元件检查算法
2.6.1 检查算法基础说明
引脚片式元件（分为 N 极管及排阻/阻容；N 极管代表有 N 个引脚），钽电容作为二极管处
理。
1）引脚片式元件的标准模板（库文件）所包含的窗口如下图所示：
A．N 极管（以 2 极管/钽电容及 3 极管为例进行说明）
二极管/钽电容：
三极管：
F
B．排阻/排容
多个）
2）对于下面所列引脚片式元件的检测窗口，可更改窗口参数。窗口参数是指窗口大小、位