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NPM-D 生产篇 2.12 不良标记识别示教 EJM1DC-MB-02O-00 Page 2-65 12 确认 ‘ 识别结果 ’ 栏是否已变为 “OK 区 块 ” 。 13 按 + 。 • 将会移动到下一个不良标记位置。 14 按 。 • 弹出是否保存数据的窗口。 选择 [ 是 ] ， 将会进行 数据的保存，并返回原来的画面。 15 按 + [ 计测测试 ] 。 • 确认识别动作是否正常。 16 将会移动到其它画面， 关闭不良标记识 …
NPM-D
生产篇
2.12
不良标记识别示教
Page 2-64 EJM1DC-MB-02O-00
8
选择
‘
标记类型
’
。
•
不良标记为白色时选择白色、为黑色时选择黑
色。
9
按
[
灯值
]
。
10
减灯
1 ~ 4
的值，调整到能够看到不良
标记的亮度。
∗
不良标记不在识别画面中央时，请按
+
[
S
] [
T
] [
W
] [
X
]
，将其移动至中央。
11
按
[
识别
]
。
•
进行识别动作。
DataTeachBadRecog-01C00
11
DataTeachBadRecog-03C00
9
8
DataTeachBadRecog-01C00
10
NPM-D
生产篇
2.12
不良标记识别示教
EJM1DC-MB-02O-00 Page 2-65
12
确认
‘
识别结果
’
栏是否已变为
“OK
区
块
”
。
13
按
+
。
•
将会移动到下一个不良标记位置。
14
按
。
•
弹出是否保存数据的窗口。选择
[
是
]
，将会进行
数据的保存，并返回原来的画面。
15
按
+
[
计测测试
]
。
•
确认识别动作是否正常。
16
将会移动到其它画面，关闭不良标记识
别画面。
•
弹出是否要搬出基板的确认窗口。选择
[
是
]
，将
会进行基板的搬出。
DataTeachBadRecog-03C00
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DataTeachBadRecogCheck-01C00
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生产篇
2.13
托盘吸附位置示教
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2.13
托盘吸附位置示教
2.13.1
关于托盘吸附示教
在托盘数据示教中，以托盘数据
(
托盘尺寸、吸附开始位置、吸附结束位置、芯片个数
)
为基础，对吸附位
置进行微调。
托盘数据示教使用吸头照相机的图像示教最初吸附芯片和最后吸附芯片的位置。其它芯片的吸附位置根据
纵横的芯片个数自动计算。
示教流程如下图所示。
选择示教托盘的地址
选择示教模式
示教吸附开始位置
示教吸附结束位置
示教完成