SAKI中文版说明书.pdf - 第107页
编 程 手册 编 程 手册 | 103 ( 30 ) E dg e (A) 概要 这 种 算法 是 用 来 检测 元 器 件的 极 性 , 比 如 二 极 管 , 胆 电容 , 和 一 些 IC 等 . (B) 设置 参 数 内 容 数 值 范围 单 位 注解 Uppe r Le v el 设 定 想 要 检测 区 域 光 亮 度 的 上限 0 - 2 55 [ 光 亮 度 ] Lowe r Le v el 设 定 想 要 检测 区 域…
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102
<< 第一个窗口的设置>>
NG
Type
Lighting
Algorithm
Upper
Level
Lower
Level
Diameter
Brightness
Offset
OK-
Upper
OK-
Lower
Adjust
Top
Light
Circle 255 150 1000 30 100 70
<< 第二个窗口的设置>>
NG Type Lighting Algorithm
Upper
Level
Lower
Level
OK-Upper
OK-Lower
Area Top Light Black /
White
255 150 100 0
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103
(30) Edge
(A) 概要
这种算法是用来检测元器件的极性, 比如二极管, 胆电容, 和一些 IC 等.
(B) 设置
参数 内容 数值范围 单位 注解
Upper Level
设定想要检测区域光亮度的上限 0 - 255 [光亮度]
Lower Level
设定想要检测区域光亮度的下限 0 - 255 [光亮度]
Search 用几个像素为单位进行搜索 0 - [像素个数]
*1
Shift 可以填入寄存器的名称得到相应的校正值. V1 - V8 [Memory] *2
Sample 找到的界限占整个窗口长度的百分比 0 - 100 [百分比]
OK Range 允许的范围. 0 - 100 [百分比]
(*1)通常情况下用： 5
(*2) 请参照 II-4.Algorithm Option, ref. 中具体使用寄存器的方法..
(C) 内部处理的说明
Edge 这种算法只用到了光亮度明暗的信息. 它有两种手段去进行检测.
1)对于一个矩形的窗口 (长度 ≧宽度 x 1.5)
机器会自动在长度方向上找出表示极性的标记，然后计算它的位置占窗口长度的百分比.
机器会在窗口的长度方向上去读取每一列像素的值，如果有像素符合你所设置的范围的话，机器会把它自动记录下
来，然后回分析那一列符合得象数最多，那机器就会把这一列作为极性标示表示出来，然后计算它的位置占窗口长
度方向上的百分比。若符合你设定的范围就 OK ，相反就 NG.
2) 对于一个正方形窗口 (长度 ＜ 宽度 x 1.5)
如果窗口内的光亮度有变化的话, 机器就会记录下这些像素的个数，然后同整个窗口的像素的个数比较得到百分比.
《关于元器件的角度和计算极性百分比的关系如下》
这里的窗口是长方形的，机器原点在右边.
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104
窗口位横向放置
0％ →100％
100％
↑
0％
100％ ← 0
％
0％
↓
100％
元器件角度 0° 90° 180° 270°
窗口为纵向放置
100％
↑
0％
100％ ← 0
％
0％
↓
100％
0％ → 100
％
*: 如机器原点在左，一切规则相反.
(D) 检测参数设置示例
检测胆电容的极性，把检测窗口放在元器件本体上，大小和元器件一致，参数如下所示
NG Type Lighting Algorithm
Upper
Level
Lower
Level
Search Shift OK-
Upper
OK-Lower
Adjust Top Light Edge 50 10 5 0 100 70
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