SAKI中文版说明书.pdf - 第109页
编 程 手册 编 程 手册 | 105 ( 31 ) L a n d J ud g m e n t (A) 概要 我 们 机器 会 在 top lig h t 和 si d e l i ght 光线 下 得 到 两张 图 像 . 因 此 每 一 个 像 素 在 两张 图 像 上 都 会有 两 种 光 亮 度 ， 这 种 算法 就是 通 过 分 别设 定 两 种 图 像 上 的 光 亮 度 的 范围 s ide min, sid e ma…
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窗口位横向放置
0％ →100％
100％
↑
0％
100％ ← 0
％
0％
↓
100％
元器件角度 0° 90° 180° 270°
窗口为纵向放置
100％
↑
0％
100％ ← 0
％
0％
↓
100％
0％ → 100
％
*: 如机器原点在左，一切规则相反.
(D) 检测参数设置示例
检测胆电容的极性，把检测窗口放在元器件本体上，大小和元器件一致，参数如下所示
NG Type Lighting Algorithm
Upper
Level
Lower
Level
Search Shift OK-
Upper
OK-Lower
Adjust Top Light Edge 50 10 5 0 100 70
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105
(31) Land Judgment
(A) 概要
我们机器会在 top light 和 side light 光线下得到两张图像. 因此每一个像素在两张图像上都会有两种光亮度，
这种算法就是通过分别设定两种图像上的 光亮度的范围 side min, side max, top min 和 top max来计算符合范
围要求的像素占整个窗口的百分比.
(B) 设置
参数 内容 数值范围
单位 注解
Top min 在 Toplight 光线拍出的图像上设定想要检测区域光亮度的下限 0 - 255 [光亮度] *1
Top max 在 Toplight 光线拍出的图像上设定想要检测区域光亮度的上限 0 - 255 [光亮度] *1
Side min 在 Sidelight 光线拍出的图像上设定想要检测区域光亮度的下限 0 - 255 [光亮度]
Side max 在 Sidelight 光线拍出的图像上设定想要检测区域光亮度的上限 0 - 255 [光亮度]
Sample 指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比 0 - 100 [百分比]
OK Range 允许的范围 0 - 100 [百分比]
(C) 内部处理的说明
(D) 检测参数设置示例
通常用在检测锡膏不够或过多.
《对于上面蓝色图框的正确样板》
NG Type Lighting
Algorithm
Top
min
Top
max
Side
min
Side
max
OK-
Upper
OK-
Lower
Sample
Solder Side
Light
Land
Judgement
150 255 80 150 10 0 5
《对于上面红色图框的错误样板》
NG Type Lighting
Algorithm
Top
min
Top
max
Side
min
Side
max
OK-
Upper
OK-
Lower
Sample
Solder Side
Light
Land
Judgement
150 255 80 150 10 0 35
Side Light
Top Light
Top Max
Top Min
Side Min
Side Max
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(32) Template
(A) 概要
这种算法时使用光亮度的信息来进行图像对比. 它通过用现在的图像和你设定好的样板之间的每一个像素进行对
比，然后计算有多少像素相匹配，计算出他们的重复度.
(B) 设置
注意窗口的尺寸必须是能检测到元器件缺陷时光亮度有变化的位置和大小.
你总共可以设置通过 3 中光亮度设置 3 种样板. (Pattern 1 to Pattern 3)
你可以在参数设置对话框中设置 “SearchRange” 和 “OKRange”
参数
内容
数值范围
单位
注解
L1
光亮度的上限
0 - 255
M1 - M8
[光亮度]
[寄存器]
*1
L2
光亮度的下限
0 - 255
M1 - M8
[光亮度]
[寄存器]
Shift
可以填入寄存器的名称得到相应的校正值.
V1 - V8
[寄存器]
*2
Search Range
搜索的范围根据元器件的大小设置 (但搜索范围越
大时间就越长)
0 -
[像素个数]
*3
Sample
和样板之间的重合度
0 - 100
[百分比]
OK Range
允许的范围
0 - 100
[百分比]
如果你设定好了各种样板，他们会用以下的颜色表示出来.
Pattern1 ： Red
Pattern2 ： Green
Pattern3 ： Blue
(*1) 请参照 II-4.Algorithm Option, ref. 中具体使用寄存器的方法.
(*2) 请参照 II-4.Algorithm Option, ref. 中具体使用寄存器的方法.
(*3) 通常设为： 5 – 10
(C) 内部处理的说明
(When "Set Binary Image on Upper/Lower Level" button of [OPTION] dialogue box is ON.)
Template 通过用现在的图像和你设定好的样板之间的每一个像素进行对比，计算出他们的重复度。然后和你设定
的范围对比是否通过
样板显示窗口
想显示样板的的图像, 请双击样板图区. 但你每次检测不同的元器件时，都会有他们各自的图像显示在这个区域。
请注意不要把这些图像存入检测程序库，要不你就会失去原来设好的样板.
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