SAKI中文版说明书.pdf - 第85页
编 程 手册 编 程 手册 | 81 ( 1 2 ) M a x / ( 1 3 ) M i n ( A ) 概要 " M a x " 值 就是 窗口 内 最 大的 亮 度 值 . " M i n " 值 就是 窗口 内 最 小 的 亮 度 值 . 设 定 " A v e r ag i n g X " 和 " A v e r a g i n g Y " 是 …
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(12) Max / (13) Min
(A) 概要
"Max" 值就是窗口内最大的亮度值.
"Min" 值就是窗口内最小的亮度值.
设定 "Averaging X" 和 "Averaging Y" 是用来消除一些干扰因素如灰尘等对检测结果的影响.
(B) 设置
Parameter Contents Value Range Unit Note
Averaging X
X方向的平均宽度
0 -
Window width
[Pixels] *1
Averaging Y
Y方向的平均宽度
0 -
Window width
[Pixels] *1
Option (Not used)
Shift
当前检测窗口的偏移
V1 - V8 [Memory] *2
Sample
窗口内的最大(最小)的亮度值
0 - 255 [Gradation]
OK Range
检测合格的上下限
0 - 100 [Gradation]
(*1) 通常"Averaging X" 和 "Averaging Y"设为 2 或 3.
(*2) 请参照 II-4.Algorithm Option, ref. 中具体使用寄存器的方法.
(C) 内部处理过程 (当 algorithm = "Max", "Averaging X" = 2 and "Averaging Y" = 2)
(D) 检测参数设置示例
这是一个检测元件偏离的例子.
现在的情况是元件电极的部分比周围的部分亮得多.当元件偏离正常位置时,电极进入窗口就会造成窗口内的最
大亮度值提高,这样就能检测出元件是否偏离.
NG Type Lighting Algorithm Averaging X
Averaging Y
OK-Upper
OK-Lower
Shift Top Light Max 2 2 150 0
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(14) L Tracking / (15) W Tracking
(A) 概要
获得元件的位置.
"L Tracking",获得元件在纵向上的位置, "W Tracking", 获得元件横向上的位置.根据这两个位置可以校正以后相关
检测窗口的位置
.
(B) 设置
参数
内容
值域
单位
备注
Upper Level
设定要搜寻亮度的上限值
0 - 255 [Gradation]
*1
Lower Level
设定要搜寻亮度的下限值
0 - 255 [Gradation]
*1
Search Range
设定搜寻范围(范围越大,搜寻的时间越长)
0 - [Pixel]
Shift
当前检测窗口的偏移
V1 - V8 [Memory] *2
Sample
需要偏移的量
0 - [Pixel]
OK Range
检测合格的上下限
0 - [Pixel]
(*1) "Upper Level" 和"Lower Level"的设定
"Upper Level" = "Lower Level" = 255: 决定元件的位置在最亮点
"Upper Level" = "Lower Level" = 0: 决定元件的位置在最暗点
"Upper Level" Not = "Lower Level": 在"Upper Level" 和"Lower Level"之间搜寻明暗变化的边缘.
(*2) 请参照 II-4.Algorithm Option, ref. 中具体使用寄存器的方法.
(C) 内部处理过程
<< 当 "L Tracking", "Upper Level" = "Lower Level" = 255 >>
利用元件亮的部分来获得它在纵向上位置.
在± "Search Range"内移动 mask 使得 mask内的像素亮度值最大, 并将移动量作为元件位置("Sample" 值).
(D) 检测参数设置示例
这是一个用"L Tracking" 测定元件位置的例子.
将窗口拉成与元件一样大小.同时把窗口的宽度调得比元件宽度稍小.
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