SAKI中文版说明书.pdf - 第47页

编 程 手册 编 程 手册 | 43 ² P acka g e T y pe 允许 选 择 IC 的 类 型 , S OP , Q FP 或者 C onn e c t or 。 ² P acka g e S i z e ( X a n d Y) 定义 IC 本 体 的 尺寸 ,请 参 考 图 V I - 3 -2 。 ² L ea d P i t ch 表 示 引 脚 间距 尺寸 ( 如 图 V I - 3 -2 所 示 ) , 可 从…

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步骤 C: 述设成后 OK息“个新YES
后如 VI-3-6步骤 A B检测自动生成
步骤 D: 位置窗口用于生成窗口前) 2的设
步骤
VI-3-6:自动生成检测窗口
VI-3-7: Load Components Setup
注意:的图,各项和标的如下
:
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² Package Type 允许 ICSOPQFP 或者 Connector
² Package Size (X and Y) 定义 IC尺寸,请 VI-3-2
² Lead Pitch 间距尺寸 VI-3-2尺寸位为
mm
² Lead Length and Pad Length参考 VI-3-2
² Number of Leads X 允许义当 IC器件 X顶部/
² Number of Leads Y允许义当 IC器件 Y左侧/
2 步:检测窗口成后检查检测窗口地和 FOV浏览中的匹配们和
的图确地匹配,请调整窗口尺寸调整窗口尺寸方法 2 如下示:
一种方法 Update并且遵循方法 1 步骤 B C步骤 Edit NC Library 的设
VI-3-1重复窗口尺寸 FOV浏览尺寸
二种方法拖拉 FOV窗口黄颜窗口的大次点器件中的件,
VI-3-5 的对Library Kind Copy current lead settings to others窗口尺寸
其它检测检测口上 VI-3-8 询问
其它口上 OK行更/
VI-3-8: 询问其它口上
3 步:()每个检测法, OK Range使用 Edit P
COPY 将更缺陷其它窗口 V-1中的图 V-1-2或者二种方法描述
/窗口方法用。
4 步:用于其它检查窗口,例 shift ()missing以及 reverse ()等。这些检测窗口的设
方法 chip 窗口方法细的检测窗口的设步骤,请 VI-2
5 步:查设满足满足,保 OK,否则重复 3
了保
VI-3-9:窗口窗口)被移动提示
注意:新元件库后,一个定位口)被重新定位)了如图
VI-3-9
会显
退置来自
CAD
文件移动
/
位。
VI-3-2 概要
IC测程细设步骤这些步骤概要如下程图 VI-3-10这个程图
,设从编 3窗口IC脚末 Type/
检测型为 IC/Connector update以便 Load Component Setup面( VI-3-
7这个,请检测的 IC件的,例 SOPQFP或者 Connector并且
间距注意 packageIC体)尺寸以及机器据第 3
口计。编 IC 机器自动生成检测窗口每个缺陷检测窗口,设窗口尺寸,算
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法,以及 OK range等。 Library 中的 IC器件/
。对缺陷 No Solder, Bridge以及 Dry Joint重复位置位窗
并且自动生成窗口不包测的缺陷检测窗口检查的设满足
检测窗口满足出)测程中。不能满足
标准能和匹配法,或者 OK range
满足成后,保IC测程的编完成了。
VI-3-10: IC件编测程步骤程图
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