CPP7174210_YSi_ProgV3_C.pdf - 第249页
4-31 4 检 查 项 目 的 设 置 ■ 检查框内 将检查框内的高度作为基准高度。设置方法,根据“选项”参数中的“屏蔽框设定”的设置不同,有 下列 3 种方法。 1. 将“屏蔽框设定”设置为“无效”时 无屏蔽框,在整个检查框范围内测定高度。 设置方法 : 将“高度基准”检查对象移到高度基准范围内的任意位置之后,根据该位置调节检查框的大小。 提取范围 检查框内 “高度基准”检查对象 选择“无效” 将“屏蔽框设定”设置为“无效”时 26…

4-30
4
检查项目的设置
2.12 3D 高度检查 ( 选配 )
“3D 高度检查”检出方法,是使用选配的 3D 投影仪检查高度时使用。首先,测定作为高度基准的高度 ( 基板面 ),
将其作为该元件的基准高度。再在该元件需检查高度的位置分别创建检查对象测定高度之后,将该高度与基准高
度之差作为检查对象位置的高度来判定良否。
2.12.1 高度基准
在部位信息“元件本体”的检查项目信息内创建“高度基准”检查对象,测定基板面的高度作为基准高度。该基
准高度将作为该元件的基准高度,因此测定“高度基准”检查对象的高度会在检查该元件的其它检查项目之前进行。
检查项目:高度基准
检出方法:3D高度检查
高度基准
“高度基准”检查对象(红框)
3D高度检查
26438-P7-10
1
设置检出条件参数。
检出条件参数
检出方法:3D高度检查
<检查项目:高度基准>
A
B
C
D
26439-P7-20
A. 提取范围
测定基准高度的方法从“检查框内”或“基板颜色”中选择。

4-31
4
检查项目的设置
■ 检查框内
将检查框内的高度作为基准高度。设置方法,根据“选项”参数中的“屏蔽框设定”的设置不同,有
下列 3 种方法。
1. 将“屏蔽框设定”设置为“无效”时
无屏蔽框,在整个检查框范围内测定高度。
设置方法 :
将“高度基准”检查对象移到高度基准范围内的任意位置之后,根据该位置调节检查框的大小。
提取范围
检查框内
“高度基准”检查对象
选择“无效”
将“屏蔽框设定”设置为“无效”时
26448-P7-10
2. 将“屏蔽框设定”设置为“手动屏蔽”时
在检查框内除指定的屏蔽框以外的范围内测定高度。屏蔽框最多可以指定 3 个。屏蔽框的形状为
矩形或圆形。
设置方法 :
i. 将“高度基准”检查框设置得比元件大。
ii. 按“选项”选项卡中的 [ 屏蔽框示教 ] 按钮,创建屏蔽框。
iii. 拖动鼠标将屏蔽框移到需要屏蔽的位置并调节屏蔽框的大小。屏蔽框的坐标与尺寸自动输入
“屏蔽框中心偏移量 (X、Y)”、“屏蔽框尺寸 (X、Y)”中。
iv. 按 [ 提取图像 ] 按钮,确认只有检出的基准高度部分显示为红色。
提取范围
检查框内
“高度基准”检查框(红框) 屏蔽框(蓝框) [屏蔽框示教]按钮
[提取图像]按钮
选择“手动屏蔽”
测定高度的区域
将“屏蔽框设定”设置为“手动屏蔽”时
26450-P7-00

4-32
4
检查项目的设置
3. 将“屏蔽框设定”设置为“其他检查框的屏蔽框”时
在检查框内除其他检查框 ( 包括本元件、其它元件 ) 以外的范围内 ( 下图中红色区域 ) 测定高度。
设置方法 :
将“高度基准”检查框设置得比元件大。
提取范围
检查框内
其他元件
“高度基准”检查框
本元件
(非“高度基准”的其他检查对象)
选择“其他检查框的屏蔽框”
将“屏蔽框设定”设置为“其他检查框的屏蔽框”时
26451-P7-00
B. 测定方法
该参数只有将“提取范围”选择为“检查框内”时才会显示。
从下拉框中选择计算基准高度的方法。
‧
平均值 :计算检查框内指定范围内的平均高度,作为基准高度。
‧
最大值 :将检查框内指定范围内的最大高度作为基准高度。
‧
最小值 :将检查框内指定范围内的最小高度作为基准高度。
‧
中央值 :将检查框内指定范围内的高度中间值作为基准高度。
‧
最大频度值 :将检查框内指定范围内的最多的高度作为基准高度。
参考
“高度基准”检查框内有元件时,若将“屏蔽框设定”设置为“无效”,则元件的高度会影响基准高度。为使接近基板面的位置作为
基准高度,需将“屏蔽框设定”设置为“其他检查框的屏蔽框”。
■ 基板颜色
将“高度”选项卡画面的“高度基准”副选项卡中设置的高度作为基准高度。
设置方法 :
i. 按 [ 提取图像 ] 按钮,确认只有检出的基准高度部分显示为红色。
ii. 若未被正确检出时,修改“高度”选项卡画面的“高度基准”的“照明设定”参数。
提取范围
基板颜色
检出的基准高度
[提取图像]按钮
26449-P7-00
参考
关于“高度”选项卡的“高度基准”副选项卡的设置方法,请参照第 2 章“3.4.2 高度基准”的内容。