CPP7174210_YSi_ProgV3_C.pdf - 第264页
4-46 4 检 查 项 目 的 设 置 2 设置照明设定参数。 1. 确认“提取照明类型”的设置为“亮度” 。 2. 按 [ 检查方向 ] 按钮，打开“选择检查方向”画面。 3. 选择最容易看清检查部位的方向上的图像并按 [OK] 按钮。 4. 按 [ 提取图像 ] 按钮，使检出范围显示为红色。 5. 移动滑动条，使只有对象异物显示为红色。 6. 根据需要，设置“降噪滤镜” 。 照明设定参数 检出方法：斜视检出异物 亮度 [提取图像]…
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4
检查项目的设置
2.15 斜视检出异物 ( 选配 )
使用选配的 4D 斜视相机拍摄的斜视图像来检查引脚间的异物，可以检查用正视图像难以检查的位置。根据检出的
对象物的 X、Y 方向尺寸判定是否为异物。
对象检查项目 ：短路
参考
‧
本检出方法仅限 Ref 角度为 0 度、90 度、180 度、270 度时可以使用。
‧
合并的视野无法使用本检出方法。
‧
受基板挠曲等的影响，斜视图像可能会发生偏位。因此，建议同时使用 Z 轴高度补偿功能。
1
创建“斜视检出异物”检查对象。
1. 新建“短路”检查对象。
2. 将检出方法选择为“斜视检出异物”。
3. 将“基本”选项卡中的“引脚展开”设置为“不执行”。“斜视检出异物”检查框即变更为各引脚方向
仅有 1 个检查框。
4. 拖动鼠标调节检查框的大小，使各边的引脚全部被框入检查框内。
创建“斜视检出异物”检查对象
检查项目：短路
调节大小后的“斜视检出异物”检查框
短路
设置为“不执行”
“基本”选项卡
斜视检出异物
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n
要点
元件顶面等比基板面高的位置，因 4D 斜视相机与检查框位置的相对高度关系容易使斜视图像发生变化。因此，“斜视检出异物”
检查框需创建在靠近基板面的位置。
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4
检查项目的设置
2
设置照明设定参数。
1. 确认“提取照明类型”的设置为“亮度”。
2. 按 [ 检查方向 ] 按钮，打开“选择检查方向”画面。
3. 选择最容易看清检查部位的方向上的图像并按 [OK] 按钮。
4. 按 [ 提取图像 ] 按钮，使检出范围显示为红色。
5. 移动滑动条，使只有对象异物显示为红色。
6. 根据需要，设置“降噪滤镜”。
照明设定参数
检出方法：斜视检出异物
亮度
[提取图像]按钮 降噪滤镜
亮度值滑动条
选择最容易看清检查部位的
方向上的图像
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3
设置检出条件参数。
检出条件参数
检出方法：斜视检出异物
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异物亮度差
在 0 〜 255 的范围内输入作为异物检出的对象物与周围的亮度差。
提取尺寸
选择“自动”或“手动”设置识别检查对象物的最小检出尺寸。
选择“手动”时，需输入“提取尺寸 X、Y(mm)”。一般，选择“自动”。
位置修正类型
选择进行位置修正时的位置基准。
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检查项目的设置
位置修正方式
该参数只有“位置修正类型”的设置为“无效”以外的选项时才有效。
‧
标准 ：
对检查对象的检查位置进行修正。
‧
检查对象伸缩 ：
修正检查对象的检查位置，但对元件外侧方向上不进行修正。
‧
仅补偿屏蔽框 ：
只对选项参数中设置的屏蔽框位置进行修正。
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设置判定条件参数。
判定条件参数
检出方法：斜视检出异物
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异物判定条件
从下拉框中选择判定异物的条件。
‧
双向尺寸判定 ：
检出物的 X、Y 方向尺寸都在“异物尺寸 X、Y”中设定的值以上且不满在“除外尺寸 X、Y”中
设定的值时，判定为 NG。即，检出物为异物。
‧
单向尺寸判定 ：
检出物的 X、Y 方向尺寸中只要有一方在“异物尺寸 X、Y”中设定的值以上且不满在“除外尺寸 X、
Y”中设定的值时，就判定为 NG。即，检出物为异物。
异物尺寸 X、Y(mm) ＞＝
检出物的 X、Y 方向的尺寸大于或等于此处的设定值时，判定为 NG。即，检出物为异物。
除外尺寸 X、Y(mm) ＞
检出物的 X、Y 方向的尺寸超过此处的设定值时，不作为异物判定。
5
对检查对象进行测试。
按“数据调整”选项卡中的 [ 对象测试 ] 按钮，对设置的检查对象进行测试。
如果测试结果为 NG，即未被正确判定时，需参考画面中显示的检出值修改各项参数的设定值。
检出值
对象测试
检出方法：斜视检出异物
[对象测试]按钮
＜检查项目：短路＞
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