ALeaderAOI 625 使用手册.pdf - 第115页
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虚焊
虚焊 , 是检测 IC 元件中 IC 脚焊点的检测项 。 它包括 2 种检测算法 , 即 PIN 算法和 OTHER 算法 。 PI N
算法是组合算法,组合了 TOC 算法下的 “ 少锡 ” 检测和 “ 空焊 ” 检测; OTHER 算法则通过统计建模来检
测 IC 焊点,一般应用于密脚 IC 。
当虚焊采用 “ PIN ” 算法来检测时,其注册窗体如下:
上图为虚焊的元件注册窗体,说明如下:
1 ROI 区域 : IC 脚的 ROI 区域 , 包括引脚框和焊锡框 。 引脚框为 ① 中等实线框 , 焊锡框为 ① 中等虚线框 。
2 检测算法区域 : 【算法选择】为 “ PIN 算法 ” ,有效子检测算法为 “ 少锡 ” 和 “ 空焊 ” 。其他参数见上图
② 示意。
3 判定区域 : “ 少锡 ” 的判定范围为( 45 , 100 ) , “ 空焊 ” 的判定范围为( 0 , 20 ) 。
4 抽色参数 : “ 少锡 ” 的抽色参数为红( 0 , 60 ) 、绿( 0 , 90 ) 、蓝( 65 , 180 ) ; “ 空焊 ” 的抽色参数为
红( 65 , 180 ) 、绿( 0 , 70 ) 、蓝( 0 , 60 ) 。
当 IC 脚之间的间距大于 0.3mm 时, IC 脚焊点的算法类型为 Other ,该算法为统计建模方式,其注册窗
体如下:
①
②
③
④

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上图为算法为 “ OTHER ” 的虚焊注册窗体,说明如下:
1 ROI 区域: ROI 框包括焊点链接区域和 IC 引脚区域,该框具备定位和检测功能。
2 检测算法区域 : 【 检测算法 】 选择 “ OTHER ” , 偏移值怕 【 Dx 】 和 【 Dy 】 为 0.15 , 其他参数见 ② 区域所
示。
3 判定区域: OTHER 算法的默认范围为( 0 , 6 ) ;
4 参数设置 : 色彩通道选择 【 红 】 + 【 绿 】 + 【 蓝 】 ; 图像格式是为 【 彩色 】 ; 【 检测长度 】 为 50% , 检测长
度可按实际情况设定,包括小部分引脚和和全部焊锡链接区域。
①
②
③
④

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提示 : 当 IC
IC
IC
IC 脚之间的间距小于 0.3mm
0.3mm
0.3mm
0.3mm 时 , 焊点框的检测类型为 OTHER
OTHER
OTHER
OTHER , 采用统计学习来判定 IC
IC
IC
IC 的好坏 。
当 “ 虚焊 ” 发生误报时,如采用 “ PIN ” 算法的 “ 虚焊 ” ,调试请参考《炉后程序制作》中的 “ 少锡 ” 和
“ 空焊 ” 的调试。如采用 “ OTHER ” 算法的 “ 虚焊 ” ,如下图:
上图为 “ 虚焊 ” 的调试窗体,图中 ① 区域中 “ 虚焊 ” 误报的检测点数量超过 3 ,则需要采用批量学习调试
,
单击 ② 区域中的【批量学习 】 ,则弹出 “ 批量学习 ” 窗体,如下:
①
②
③
①
②