ALeaderAOI 625 使用手册.pdf - 第115页

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虚焊
虚焊 是检测 IC 元件中 IC 脚焊点的检测项 包括 2 种检测算法 PIN 法和 OTHER 算法 PI N
算法是组合算法,组合 TOC 算法下的 少锡 检测和 空焊 检测; OTHER 法则通过统计建模来
IC 焊点,一般应用于密脚 IC
当虚焊采用 PIN 算法来检测时,其注册窗体如下:
上图为虚焊的元件注册窗体,说明如下:
1 ROI 区域 IC 脚的 ROI 区域 包括引脚框和焊锡框 引脚框为 中等实线框 焊锡框为 中等虚线框
2 检测算法区 【算法选择】 PIN 算法 ,有效子检测算法 少锡 空焊 。其他参数见上
示意。
3 判定区 少锡 的判定范围为( 45 100 空焊 的判定范围为( 0 20
4 抽色参 少锡 的抽色参数为红( 0 60 、绿( 0 90 、蓝( 65 180 空焊 的抽色参数
红( 65 180 、绿( 0 70 、蓝( 0 60
IC 脚之间的间距大 0.3mm 时, IC 脚焊点的算法类型为 Other ,该算法为统计建模方式,其注册窗
体如下:
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上图为算法 OTHER 的虚焊注册窗体,说明如下:
1 ROI 区域: ROI 框包括焊点链接区域和 IC 引脚区域,该框具备定位和检测功能。
2 检测算法区域 检测算法 选择 OTHER 偏移值 Dx Dy 0.15 其他参数见 区域所
示。
3 判定区域: OTHER 算法的默认范围为( 0 6
4 参数设 色彩通道选择 + 绿 + 图像格式是为 彩色 检测长度 50% 检测长
度可按实际情况设定,包括小部分引脚和和全部焊锡链接区域
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提示 IC
IC
IC
IC 脚之间的间距小于 0.3mm
0.3mm
0.3mm
0.3mm 焊点框的检测类型为 OTHER
OTHER
OTHER
OTHER 采用统计学习来判定 IC
IC
IC
IC 的好坏
虚焊 发生误报时,如采用 PIN 算法的 虚焊 ,调试请参考《炉后程序制作》中的 少锡
空焊 的调试。如采用 OTHER 算法的 虚焊 ,如下图:
上图为 虚焊 的调试窗体,图中 区域中 虚焊 误报的检测点数量超过 3 ,则需要采用批量学习调
单击 区域中的【批量学习 ,则弹出 批量学习 窗体,如下