ALeaderAOI 625 使用手册.pdf - 第17页
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地址： 东莞市东城区牛山金鸡岭兴华工业园 F 栋
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亮度范围 范围区间为（ 30 ， 255 ） ，其中下限为 30 ，上限为 255 。
判定范围 范围区间为（ 60 ， 100 ） ，其中下限为 60 ，上限为 100 。
其上述参数在色度三角型表示如下：
① 为色彩抽取的参数区域， ② 为参数表示的图像区域。
提示：该 “ TOC
TOC
TOC
TOC ” 算法中的【焊点】是选择状态。
1.4.2.
1.4.2.
1.4.2.
1.4.2.
空焊
空焊 ， 主要是用于炉后焊锡的检测 。 空焊的 ROI 区域是焊点的爬锡区域 ， 它检测焊点是否发生空焊现象
。
空焊现象就是指焊点没有焊锡，仅仅是铜箔。空焊现象的色彩特征为亮度亮、色度偏红。对于空焊焊的检
测采用的算法为 “ TOC 算法 ” ，其默认参数如下：
参数 参数范围
红色范围 范围区间为（ 65 ， 180 ） ，其中下限为 65 ，上限为 180 。
绿色范围 范围区间为（ 0 ， 70 ） ，其中下限为 0 ，上限为 70 。
蓝色范围 范围区间为（ 0 ， 60 ） ，其中下限为 0 ，上限为 60 。
亮度范围 范围区间为（ 80 ， 255 ） ，其中下限为 80 ，上限为 255 。
判定范围 范围区间为（ 20 ， 100 ） ，其中下限为 20 ，上限为 100 。
其上述参数在色度三角型表示如下：
① 为色彩抽取的参数区域， ② 为参数表示的图像区域。
①
②
①
②
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1.4.3
1.4.3
1.4.3
1.4.3 错件
错件 ， 主要是用于检测元件本体的检测 ， 检测该元件是否发生错料 。 该检测项是 AOI 检测的常规检测项
。
错件可采用四种检测算法，其四种检测算法分别为 TOC 算法、 OCV 算法、 Match 算法和 OCR 算法。每个
错件的检测算法针对检测项目的偏重不一样。
TOC 算法类的错件检测 ， 主要用于非字符类元件的错件检测 ， 该类元件主要为电容 。 该类检测法是通过
抽取元件的本体色 ， 判断元件本体色是否改变 ， 来检测元件的错件 。 其中元件的本体色参数 ， 无默认参数
，
是根据实际的本体色给出的色彩抽取参数。
OCV 算法类的错件检测，主要用于清晰字符类的错件检测，该类元件主要为电阻。该类检测法是通过
获取待测字符轮廓与标准字符的字符轮廓的拟合程度，来判断元件是否发生错件。该类检测的判定参数的
默认范围为 （ 0 ， 12 ） 。 如标准字符为 “ 123 ” ， 待测字符为 “ 351 ” ， 拟合返回值为 28.3 ， 判定范围为 （ 0 ， 12 ）
，
则该元件发生 “ 错件 ” 。
Match 类检测算法 ， 主要是用于模糊字符类的错件检测 ， 该类元件主要为二极管 、 三极管等 。 该类检测
算法主要是通过获取待测字符区域与标准字符区域的相似程度 ， 来判定元件是否发生 “ 错件 ” 。 该类错件的
判定范围默认为（ 0 ， 32 ） 。
OCR 类检测算法 ， 主要是用于重要部件的元件的检测 ， 该类元件主要为 BGA 、 QFP 、 BGA 等 。 该类算
法主要是通过识别待测字符，判定待测字符是否与标准字符一致来检测和判断是否发生错件。如标准字符
为 “ 123 ” ，实际字符为 “ 122 ” ，则 OCR 算法判断该类元件发生 “ 错件 ” 。
1.4.4
1.4.4
1.4.4
1.4.4 缺件
缺件，主要用于检测元件本体是否存在，是 AOI 常规检测中不可或缺的检测项。该类检测采用的检测
算法有 TOC 、 Match 、 OCV 、 OCR 、 Length 、 Histogarm 等检测算法 。 其中 TOC 、 Match 、 OCV 、 OCR 与错
件的使用一致。
Length 算法主要是通过检测 Chip 件 （ 电容 ） 本体的长度 ， 或者电极的长度 ， 来判断元件是否发生缺件
。
该算法检测主要应用于炉前检测、红胶检测。 Length 算法的判定参数的默认范围为（ 42 ， 58 ） 。见下图：
上图为 Length 的外距测量法，检测点的程度为 98 ，标准检测点的长度为 95 ，则返回值为 53 ，其返回值的
计算公式如下：
返回值 =
=
=
= 检测点的实际长度 –
–
–
– 检测点的标准长度 +
+
+
+ 50
50
50
50
①
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Length 的判定范围为（ 42 ， 58 ） ，则缺件检测结果为 “ OK ” 。
Histogram 类的检测算法，主要是通过检测 Chip 件元件的焊点的亮度是否超出范围来判断是否发生缺
件。该类算法应用于炉后检测。其默认判定范围为（ 0 ， 120 ） ，如下：
上图【比率】为 100% ，该项检测就是均值算法。
1.4.5.
1.4.5.
1.4.5.
1.4.5.
极性反
极性反，是检测极性元件方向的必需检测项。检测缺件可选择的算法有 TOC 、 Match 、 OCV 、 OCR 和
Histogram 算法。其中 TOC 、 Match 、 OCV 、 OCR 的检测算法与错件一致。 Histogram 类检测算法，采用了
最大值（最小值）来检测元件是否发生极性反现象。在极性元件中存在极性标识，该极性标志的亮度明显
要大于（小于）元件的本体亮度，可采用最大值（最小值）来检测判断元件是否发生极性反。如极性元件
存在一高亮区域 ， 该亮度区域的亮度要大于 200 ， 则可设定判定范围 （ 200 ， 255 ） ， 采用最大值算法来进行
检测，如下：
上图选择【比率】为 5 ，检测模式为【 Max 】 ，返回值为 243 ，则该元件的方向 OK 。
1.4.6.
1.4.6.
1.4.6.
1.4.6. 短路
短路检测，是 AOI 检测中一种最常见的检测项。短路检测主要应用于 IC 类的 IC 脚之间的检测、波峰
焊元件之间的检测等。短路检测采用的算法为 “ Short2 ” ，该算法中分为 “ 投影法 ” 和 “ 色彩抽取法 ” 等 2
种检测方式， 2 种检测方式分别具备不同的检测意义。
投影法 ， 主要检测 IC 类的短路 ， 并且 IC 脚之间无白色丝印干扰 。 该类检测 ， 主要是检测 IC 脚之间的
亮度是否发生突变性变化（短路现象 ） ，如下：