ALeaderAOI 625 使用手册.pdf - 第170页
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上图为电阻的注册窗体， ① 区域包括所有的电阻检测项，说明如下：
元件类型 检测项 说明
电容
本体框
本体框的作用是用于定位、偏移。其注册与与调试见《炉后的基本检测项 》 中
《偏移》中采用 “ Match ” 算法的 “ 偏移 ” 算法。
溢胶框
锡少框的作用是用于检测焊点是否具备锡膏 。 其注册与与调试见 《 红胶的基本
检测项》中 “ 溢胶 ” 算法。
错件框
错件框的作用是用于检测焊点是否错件 、 侧立 、 立碑 、 反白 。 其注册与与调试
见《炉后的基本检测项》中《错件》中采用 “ OCV ” 算法的 “ 错件 ” 算法。
6.4.3.
6.4.3.
6.4.3.
6.4.3. 极性二脚件
极性二脚件的元件标准包括本体框、错件框、缺件框和 2 个溢胶框。其元件示意图如下：
见上图，红色框为本体框，黄色框为错件框，蓝色框为溢胶框，白色框为缺件框。其注册窗体如下：
①
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上图为极性二脚件的注册窗体， ① 区域包括所有的极性二脚件检测项，说明如下：
元件类型 检测项 说明
极性二脚件
本体框
本体框的作用是用于定位 、 偏移 。 其注册与与调试见 《 炉后的基本检测项
》
中《偏移》中采用 “ Match ” 算法的 “ 偏移 ” 算法。
溢胶框
锡少框的作用是用于检测焊点是否具备锡膏。其注册与与调试见《红胶的
基本检测项》中 “ 溢胶 ” 算法。
错件框
错件框的作用是用于检测焊点是否错件、侧立、立碑、反白。其注册与与
调试见《炉后的基本检测项》中《错件》中采用 “ Match ” 算法的 “ 错件
”
算法。
缺件框
缺件框的作用是检测元件是否发生缺件。其注册与与调试见《红胶的基本
检测项》中《缺件》中采用 “ Length ” 算法的 “ 缺件 ” 算法。
6.4.4
6.4.4
6.4.4
6.4.4 三极管
三极管的元件标准注册包括本体框、错件框和 3 个虚焊框。其注册窗体如下：
①
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上图为三极管的注册窗体， ① 区域包括所有的三极管检测项，说明如下：
元件类型 检测项 说明
三极管
本体框
本体框的作用是用于定位 、 偏移 。 其注册与与调试见 《 炉后的基本检测项
》
中《偏移》中采用 “ Match ” 算法的 “ 偏移 ” 算法。
虚焊框
虚焊框的作用是用于检测元件是否发生偏移。其注册与与调试见《红胶的
基本检测项》中 “ 虚焊 ” 算法。
错件框
错件框的作用是用于检测焊点是否错件、侧立、立碑、反白。其注册与与
调试见《炉后的基本检测项》中《错件》中采用 “ Match ” 算法的 “ 错件
”
算法。
6.4.5.
6.4.5.
6.4.5.
6.4.5. SOP
SOP
SOP
SOP
器件
SOP 的元件注册包括主体框、错件框、空焊框（ N 个 ） 。说明如下：
元件类型 检测项 说明
SOP 件
本体框
本体框的作用是用于定位 、 偏移 。 其注册与与调试见 《 炉后的基本检测项
》
中《偏移》中采用 “ Match ” 算法的 “ 偏移 ” 算法。
虚焊框
虚焊框的作用是用于检测元件是否发生偏移。其注册与与调试见《红胶的
基本检测项》中 “ 虚焊 ” 算法。
错件框
错件框的作用是用于检测焊点是否错件、侧立、立碑、反白。其注册与与
调试见《炉后的基本检测项》中《错件》中 “ 错件 ” 算法。
6.4.6.
6.4.6.
6.4.6.
6.4.6. QFP
QFP
QFP
QFP 器件
QFP 的注册与调试和红胶检测中的 SOP 一致。
6.4.7.
6.4.7.
6.4.7.
6.4.7. DIP
DIP
DIP
DIP
件
DIP 件 ， 就是指检测红胶中的插件是否存在 。 DIP 件的注册框是一个针对性的检测框 （ 缺件框 ） ， 其注册
窗体如下：