ALeaderAOI 625 使用手册.pdf - 第169页
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上图为电容的注册窗体， ① 区域包括所有的电容检测项，说明如下：
元件类型 检测项 说明
电容
本体框
本体框的作用是用于定位、偏移。其注册与与调试见《炉后的基本检测项 》 中
《偏移》中采用 “ Match ” 算法的 “ 偏移 ” 算法。
溢胶框
锡少框的作用是用于检测焊点是否发生溢胶 。 其注册与与调试见 《 红胶的基本
检测项》中 “ 溢胶 ” 算法。
错件框
错件框的作用是用于检测焊点是否错件 、 侧立 、 立碑 、 反白 。 其注册与与调试
见《炉后的基本检测项》中《错件》中采用 “ TOC ” 算法的 “ 错件 ” 算法。
缺件框
缺件框的作用是用于检测元件是否缺件 。 其注册与与调试见 《 红胶的基本检测
项》中《缺件》中采用 “ Length ” 算法的 “ 缺件 ” 算法。
6.4.2.
6.4.2.
6.4.2.
6.4.2. 电阻
电阻的元件标准包括本体框、错件框和 2 个溢胶框，其元件示意图如下：
见上图，红色框为本体框，黄色框为错件（缺件）框，蓝色框为溢胶框，缺件框的位置基本一致。其注册
窗体如下：
①
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上图为电阻的注册窗体， ① 区域包括所有的电阻检测项，说明如下：
元件类型 检测项 说明
电容
本体框
本体框的作用是用于定位、偏移。其注册与与调试见《炉后的基本检测项 》 中
《偏移》中采用 “ Match ” 算法的 “ 偏移 ” 算法。
溢胶框
锡少框的作用是用于检测焊点是否具备锡膏 。 其注册与与调试见 《 红胶的基本
检测项》中 “ 溢胶 ” 算法。
错件框
错件框的作用是用于检测焊点是否错件 、 侧立 、 立碑 、 反白 。 其注册与与调试
见《炉后的基本检测项》中《错件》中采用 “ OCV ” 算法的 “ 错件 ” 算法。
6.4.3.
6.4.3.
6.4.3.
6.4.3. 极性二脚件
极性二脚件的元件标准包括本体框、错件框、缺件框和 2 个溢胶框。其元件示意图如下：
见上图，红色框为本体框，黄色框为错件框，蓝色框为溢胶框，白色框为缺件框。其注册窗体如下：
①
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上图为极性二脚件的注册窗体， ① 区域包括所有的极性二脚件检测项，说明如下：
元件类型 检测项 说明
极性二脚件
本体框
本体框的作用是用于定位 、 偏移 。 其注册与与调试见 《 炉后的基本检测项
》
中《偏移》中采用 “ Match ” 算法的 “ 偏移 ” 算法。
溢胶框
锡少框的作用是用于检测焊点是否具备锡膏。其注册与与调试见《红胶的
基本检测项》中 “ 溢胶 ” 算法。
错件框
错件框的作用是用于检测焊点是否错件、侧立、立碑、反白。其注册与与
调试见《炉后的基本检测项》中《错件》中采用 “ Match ” 算法的 “ 错件
”
算法。
缺件框
缺件框的作用是检测元件是否发生缺件。其注册与与调试见《红胶的基本
检测项》中《缺件》中采用 “ Length ” 算法的 “ 缺件 ” 算法。
6.4.4
6.4.4
6.4.4
6.4.4 三极管
三极管的元件标准注册包括本体框、错件框和 3 个虚焊框。其注册窗体如下：
①