ALeaderAOI 625 使用手册.pdf - 第122页

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当采用 TOC 法发生 错件 误报时,如下:
上图为 错件 误报调试窗体, 待测元件的本体色彩与亮度与标准本体的色彩和亮度差异不大,该状态下
选择调节抽色参数来消除误报。 中的抽色参数的 亮度 由( 33 67 )调节为 33 75 ,则该误报
消除。当待测元件的本体色彩和亮度与标准元件的本体色彩和亮度差异大时,如下图:
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对于此 错件 误报,采用 内派生 操作,单 中的【派生】操作,增加待用检测项标准。
误报时 返回值与判定范围的下限差异不大时,降低判定下限,一般为 5 个刻度值为单位。
当采用 OCV 算法发生 错件 误报时,如下:
上图为 错件 误报窗体,标准丝印为 472 ,待测丝印为 268 ,丝印发生改变,选择增加丝印标准
进行 内派生 区域中的 派生 消除此类误报 或者 OCV 算法的返回值为 13.6 判定范
围为( 0 12 )时,采取增大判定上限,将判定范围调节为( 0 15 ,则消除该误报。
当采用 Match 算法发生 错件 误报时,如下:
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上图为采用 Match 算法的 错件 误报调试窗体 选用的操作 中的 派生 增加一个待用检测项
当采用 OCR 算法发生 错件 误报时,可通过改变 ROI 范围来消除误报。
3.3.6
3.3.6
3.3.6
3.3.6
缺件
缺件,是电子元器件的一个重要检测项,是元器件三大必须检测项之一。缺件采用的算法有 TOC
算法 OCV 算法 Match 算法 OCR 算法 Histogram 算法和 Missing 算法。其中 TOC
算法 OCV 算法 Match 算法 OCR 算法与 错件 中的 TOC 算法 OCV 算法 Match
算法 OCR 算法一致 Histogram 法是通过分析区域的平均亮度来检测的 Missing 算法是通
过检测电容的两个电极要检测的,该 2 种算法都是针对于电容的缺件检测。
缺件 采用 Histogram 算法时,其注册窗体如下:
上图为 Histogram 算法下 缺件 注册窗体,说明如下:
1 ROI 区域 缺件框大小要偏离电容本体 2 个像素左右 宽度大小为整个焊盘的三分之一到三分之二之间
高度大小要与电容本体的高度大小一致。
2 检测算法区域 【检测算法】选择 Histogram 算法,其他参数见 区域。
3 缺件的判定区域:默认判定范围为( 0 120
4 Histogram 参数 检测模式 选择 Min 或者为 Max 色彩模式为 + 绿 + 平均