ALeaderAOI 625 使用手册.pdf - 第142页
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上图为电容的注册窗体， ① 区域包括所有的电容检测项，说明如下：
元件类型 检测项 说明
电容
本体框
本体框的作用是用于定位、偏移。其注册与与调试见《炉后的基本检测项 》 中
《偏移》中采用 “ Match ” 算法的 “ 偏移 ” 算法。
锡少框
锡少框的作用是用于检测焊点是否具备锡膏 。 其注册与与调试见 《 炉前的基本
检测项》中 “ 锡少 ” 算法。
露铜框
露铜框的作用是用于检测焊点是否发生露铜 。 其注册与与调试见 《 炉前的基本
检测项》中 “ 露铜 ” 算法。
错件框
错件框的作用是用于检测焊点是否错件 、 侧立 、 立碑 、 反白 。 其注册与与调试
见《炉后的基本检测项》中《错件》中采用 “ TOC ” 算法的 “ 错件 ” 算法。
缺件框
缺件框的作用是用于检测元件是否缺件 。 其注册与与调试见 《 炉前的基本检测
项》中《缺件》中采用 “ Length ” 算法的 “ 缺件 ” 算法。
①
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4.5.2.
4.5.2.
4.5.2.
4.5.2.
电阻
电阻的元件注册，包括本体框、错件（缺件）框、 2 个锡少框和 2 个露铜框。其元件注册示意图如下 ：
见上图 ， 红色框为本体框 ， 黄色框为错件 （ 缺件 ） 框 ， 蓝色框为锡少框 （ 露铜框 ） ， 锡少框与露铜框 、 缺件
框的位置基本一致。其注册窗体如下：
上图为电阻的注册窗体， ① 区域包括所有的电阻检测项，说明如下：
元件类型 检测项 说明
①
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电容
本体框
本体框的作用是用于定位、偏移。其注册与与调试见《炉后的基本检测项 》 中
《偏移》中采用 “ Match ” 算法的 “ 偏移 ” 算法。
锡少框
锡少框的作用是用于检测焊点是否具备锡膏 。 其注册与与调试见 《 炉前的基本
检测项》中 “ 锡少 ” 算法。
露铜框
露铜框的作用是用于检测焊点是否发生露铜 。 其注册与与调试见 《 炉前的基本
检测项》中 “ 露铜 ” 算法。
错件框
错件框的作用是用于检测焊点是否错件 、 侧立 、 立碑 、 反白 。 其注册与与调试
见《炉后的基本检测项》中《错件》中采用 “ OCV ” 算法的 “ 错件 ” 算法。
4.5.3.
4.5.3.
4.5.3.
4.5.3.
极性二脚件
极性二脚件的元件注册包括本体框、错件框、缺件框、 2 个锡少框和 2 个露铜框。其元件示意图如下 ：
上图为极性二脚件的示意图，红色框为主体框、褐色框为错件框、白色框为缺件框、蓝色框为锡少框（露
铜框 ） 。其注册窗体窗体如下：
①