ALeaderAOI 625 使用手册.pdf - 第167页
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60 ) ,亮度范围为( 120 , 255 ) 。
提示:虚焊算法中仅空焊子算法有效。
当虚焊发生误报时,遵循以下调试原则:
1 ) 返回值与判定范围差异不大时 , 调整判定范围 。 如返回值为 62 , 判定范围为 ( 65 , 100 ) , 可将判定范
围调整为( 60 , 100 ) 。
2 ) ROI 区域未设置合理,可调整 ROI 区域范围。
6.3.4
6.3.4
6.3.4
6.3.4
插件
插件,即 DIP 件,是红胶检测中检测插件有无的重要算法。它采用 “ Hole ” 算法,该算法是专门针对
红胶中的插件检测,其注册窗体如下:
上图为 “ Hole ” 算法下的插件算法,说明如下:
1 ROI 区域:包括插件的焊盘区域,外接插件的椭圆焊盘。
2 检测算法区域 : 【检测算法】选择 “ Hole ” ,其他参数见 ② 区域。
3 插件的判定参数:默认判定范围为( 60 , 255 ) ,单位为像素。
4 插件焊盘的抽色区域:默认抽色范围为铜箔的抽取参数,见 ④ 区域。
①
②
③
④
⑤

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5 插件的参数区域:插件的焊盘定位参数和检测算法,见 ⑤ 区域。
当插件发生误报时,遵循以下调试原则:
1 ) 确定定位的位置是否 OK ,对【定位内径】进行参数调节。
2 ) 确定检测椭圆圆环区域,对检测区域进行调节,即【检测内径】和【检测外径 】 。
3 ) 查看返回值,调节判定范围。
6.4.
6.4.
6.4.
6.4. 标准注册与调试
标准注册与调试
标准注册与调试
标准注册与调试
6.4.1.
6.4.1.
6.4.1.
6.4.1. 电容
电容的元件注册包括主体框、缺件框、错件框和 2 个溢胶框等检测项。其元件示意图如下:
上图中,红色框为本体框、蓝色框为溢胶框、紫色框为错件框、白色框为缺件框。其注册窗体如下:
①

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上图为电容的注册窗体, ① 区域包括所有的电容检测项,说明如下:
元件类型 检测项 说明
电容
本体框
本体框的作用是用于定位、偏移。其注册与与调试见《炉后的基本检测项 》 中
《偏移》中采用 “ Match ” 算法的 “ 偏移 ” 算法。
溢胶框
锡少框的作用是用于检测焊点是否发生溢胶 。 其注册与与调试见 《 红胶的基本
检测项》中 “ 溢胶 ” 算法。
错件框
错件框的作用是用于检测焊点是否错件 、 侧立 、 立碑 、 反白 。 其注册与与调试
见《炉后的基本检测项》中《错件》中采用 “ TOC ” 算法的 “ 错件 ” 算法。
缺件框
缺件框的作用是用于检测元件是否缺件 。 其注册与与调试见 《 红胶的基本检测
项》中《缺件》中采用 “ Length ” 算法的 “ 缺件 ” 算法。
6.4.2.
6.4.2.
6.4.2.
6.4.2. 电阻
电阻的元件标准包括本体框、错件框和 2 个溢胶框,其元件示意图如下:
见上图,红色框为本体框,黄色框为错件(缺件)框,蓝色框为溢胶框,缺件框的位置基本一致。其注册
窗体如下:
①