ALeaderAOI 625 使用手册.pdf - 第16页
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Match2 算法中基于本体框的定位模式有两种，分为为单框定位模式和双框组合定位模式。如下：
上图中 ① 为单框定位模式，与 Match 算法一致； ② 为双框组合定位模式，定位区域由 B 区域中的实线单框
和虚线单框组合而成，两个框的组合区域为有效定位区域。
1.3.14
1.3.14
1.3.14
1.3.14 ． Missing
Missing
Missing
Missing 算法
Missing 算法 ， 是专门针对电容缺件的图像处理算法 。 它是通过比对标准电容两个电极的外接矩形和待
测电容两个电极的外接举行的面积差异，来判断和检测电极是否发生缺件。如下示意：
上图为发生缺件时的元件示意图， ① 为正常元件的两端高亮电极区域的外接矩形， ② 为发生缺件时的两端
高亮区域的外接矩形，则 Missing 算法下的差异值如下：
Result
Result
Result
Result =
=
=
= （ S2
S2
S2
S2 -
-
-
- S1
S1
S1
S1 ） /
/
/
/ S1
S1
S1
S1 –
–
–
– 1
1
1
1
其中 S2 为外接矩形 B 的面积， S1 为外接矩形 A 的面积。
提示： Missing
Missing
Missing
Missing 算法的默认判定范围为（ 0
0
0
0 ， 15
15
15
15 ） 。
1.4.
1.4.
1.4.
1.4. 算法主要应用
算法主要应用
算法主要应用
算法主要应用
算法应用，是 AOI 算法应用于检测领域的关键部分。在熟悉和理解各种 AOI 算法的基础上，使用 AO I
算法应用于各个检测项，是 AOI 工程师制作检测程序的前提。文档将在少锡、虚焊、空焊、错件、缺件、
极性反、短路、插件等 NG 检测项详细讲解算法的应用，如下：
1.4.1.
1.4.1.
1.4.1.
1.4.1. 少锡
少锡 ， 主要是用于炉后焊锡的检测 。 少锡的 ROI 区域是焊点的爬锡区域 ， 它检测焊点是否具备爬锡现象
。
爬锡区域的色彩特征为亮度低、色度偏蓝。对于少锡的检测采用的算法为 “ TOC 算法 ” ，其默认参数如下 ：
参数 参数范围
红色范围 范围区间为（ 0 ， 60 ） ，其中下限为 0 ，上限为 60 。
绿色范围 范围区间为（ 75 ， 180 ） ，其中下限为 75 ，上限为 180 。
蓝色范围 范围区间为（ 65 ， 180 ） ，其中下限为 65 ，上限为 180 。
①
②
①
②
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亮度范围 范围区间为（ 30 ， 255 ） ，其中下限为 30 ，上限为 255 。
判定范围 范围区间为（ 60 ， 100 ） ，其中下限为 60 ，上限为 100 。
其上述参数在色度三角型表示如下：
① 为色彩抽取的参数区域， ② 为参数表示的图像区域。
提示：该 “ TOC
TOC
TOC
TOC ” 算法中的【焊点】是选择状态。
1.4.2.
1.4.2.
1.4.2.
1.4.2.
空焊
空焊 ， 主要是用于炉后焊锡的检测 。 空焊的 ROI 区域是焊点的爬锡区域 ， 它检测焊点是否发生空焊现象
。
空焊现象就是指焊点没有焊锡，仅仅是铜箔。空焊现象的色彩特征为亮度亮、色度偏红。对于空焊焊的检
测采用的算法为 “ TOC 算法 ” ，其默认参数如下：
参数 参数范围
红色范围 范围区间为（ 65 ， 180 ） ，其中下限为 65 ，上限为 180 。
绿色范围 范围区间为（ 0 ， 70 ） ，其中下限为 0 ，上限为 70 。
蓝色范围 范围区间为（ 0 ， 60 ） ，其中下限为 0 ，上限为 60 。
亮度范围 范围区间为（ 80 ， 255 ） ，其中下限为 80 ，上限为 255 。
判定范围 范围区间为（ 20 ， 100 ） ，其中下限为 20 ，上限为 100 。
其上述参数在色度三角型表示如下：
① 为色彩抽取的参数区域， ② 为参数表示的图像区域。
①
②
①
②
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1.4.3
1.4.3
1.4.3
1.4.3 错件
错件 ， 主要是用于检测元件本体的检测 ， 检测该元件是否发生错料 。 该检测项是 AOI 检测的常规检测项
。
错件可采用四种检测算法，其四种检测算法分别为 TOC 算法、 OCV 算法、 Match 算法和 OCR 算法。每个
错件的检测算法针对检测项目的偏重不一样。
TOC 算法类的错件检测 ， 主要用于非字符类元件的错件检测 ， 该类元件主要为电容 。 该类检测法是通过
抽取元件的本体色 ， 判断元件本体色是否改变 ， 来检测元件的错件 。 其中元件的本体色参数 ， 无默认参数
，
是根据实际的本体色给出的色彩抽取参数。
OCV 算法类的错件检测，主要用于清晰字符类的错件检测，该类元件主要为电阻。该类检测法是通过
获取待测字符轮廓与标准字符的字符轮廓的拟合程度，来判断元件是否发生错件。该类检测的判定参数的
默认范围为 （ 0 ， 12 ） 。 如标准字符为 “ 123 ” ， 待测字符为 “ 351 ” ， 拟合返回值为 28.3 ， 判定范围为 （ 0 ， 12 ）
，
则该元件发生 “ 错件 ” 。
Match 类检测算法 ， 主要是用于模糊字符类的错件检测 ， 该类元件主要为二极管 、 三极管等 。 该类检测
算法主要是通过获取待测字符区域与标准字符区域的相似程度 ， 来判定元件是否发生 “ 错件 ” 。 该类错件的
判定范围默认为（ 0 ， 32 ） 。
OCR 类检测算法 ， 主要是用于重要部件的元件的检测 ， 该类元件主要为 BGA 、 QFP 、 BGA 等 。 该类算
法主要是通过识别待测字符，判定待测字符是否与标准字符一致来检测和判断是否发生错件。如标准字符
为 “ 123 ” ，实际字符为 “ 122 ” ，则 OCR 算法判断该类元件发生 “ 错件 ” 。
1.4.4
1.4.4
1.4.4
1.4.4 缺件
缺件，主要用于检测元件本体是否存在，是 AOI 常规检测中不可或缺的检测项。该类检测采用的检测
算法有 TOC 、 Match 、 OCV 、 OCR 、 Length 、 Histogarm 等检测算法 。 其中 TOC 、 Match 、 OCV 、 OCR 与错
件的使用一致。
Length 算法主要是通过检测 Chip 件 （ 电容 ） 本体的长度 ， 或者电极的长度 ， 来判断元件是否发生缺件
。
该算法检测主要应用于炉前检测、红胶检测。 Length 算法的判定参数的默认范围为（ 42 ， 58 ） 。见下图：
上图为 Length 的外距测量法，检测点的程度为 98 ，标准检测点的长度为 95 ，则返回值为 53 ，其返回值的
计算公式如下：
返回值 =
=
=
= 检测点的实际长度 –
–
–
– 检测点的标准长度 +
+
+
+ 50
50
50
50
①