KE-2000R_InstructionManual_C_Rev00说明.pdf - 第708页
第 2 部 功能详细编 第 9 章 手动控制 9-17 (4) 窗口类型 利用按钮来选择测量时的窗口类型。 在控制项目中选择了“测量(ONCE)”、“测量(SWEEP)”以外项时，不能进行设定。 图 9-4-1-3-1(b) (5) 控制按钮 利用控制按钮来执行控制项目。 控制按钮的显示因控制项目而异。 在控制结束时更新状态显示。 1) 真空 控制所选贴片头真空的ON/OFF。 在控制项目的“真空”被选中时，选择“ ON(1 )”按钮、…
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(2) 算法
通过组合框选择执行测量(SWEEP)时的激光算法。
按下“Alt”+“↓”键，显示如下的一览表。
图 9-4-1-3-1(b)
显示画面中左侧的数字表示算法，右侧的字母表示SWEEP时的θ旋转速度。
算法：
1(14，–14): 从当前位置起反向旋转了预设角度后的位置，从该位置起再旋转θ后，找到阴
影宽度最小的位置(第1次)。然后，从检测出的最小宽度的位置起，旋转90
度，检测出第2最小宽度(第2次)。
相当于元件数据中设定的激光识别算法的算法1。
２(14，14): 从当前位置起反向旋转了预设角度后，从该位置起再旋转θ后，找到阴影宽度
最小的位置(第1次)。之后，从检测出的最小宽度的位置起旋转θ，检测出第2
最小宽度(第2次)。
相当于元件数据中设定的激光识别算法的算法2。
３(–14，–14): 不旋转θ，在运行时的位置检测阴影(第1次)。之后，在旋转到的位置检测阴
影(第2次)。
相当于元件数据中设定的激光识别算法的算法2。
速度： H：高速，M：中速，L：低速
(3) 控制项目
利用按钮来选择控制项目。
图 9-4-1-3-1(c)
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(4) 窗口类型
利用按钮来选择测量时的窗口类型。
在控制项目中选择了“测量(ONCE)”、“测量(SWEEP)”以外项时，不能进行设定。
图 9-4-1-3-1(b)
(5) 控制按钮
利用控制按钮来执行控制项目。
控制按钮的显示因控制项目而异。
在控制结束时更新状态显示。
1) 真空
控制所选贴片头真空的ON/OFF。
在控制项目的“真空”被选中时，选择“ON(1
)”按钮、“OFF(2)”按钮、“ON/OFF(3)”按
钮或按下“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制。
2) Z 轴调整
对所选贴片头的Z轴坐标进行控制。
吸嘴吸取元件时使用。
在控制项目的“Z轴调整”被选中时，选择“上(1
)”按钮、“下(2)”按钮、“上/下(3)”按
钮或按下“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制。
3) Z 轴微调
对所选贴片头的Z轴坐标进行控制。
将吸取元件移动到激光测量高度时使用。
在控制项目的“Z轴微调”被选中时，选择“上(1
)”按钮、“下(2)”按钮、“LA面(3)”按
钮或按下“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制。
4) 激光初始化
初始化所选贴片头的激光传感器。
选中控制项目的“激光初始化”时，选择“执行(1
)”按钮或按“F3”键控制。
5) 测量(ONCE)
进行所选贴片头的激光测量(ONCE)。
ONCE可获得当前传感器拍摄的阴影信息。在状态显示的第1次位置中显示测量结果。(参见图9
-4-1-3-1)
选中控制项目的“测量(ONCE)”时，选择“执行(1
)”、“LA面(3)”按钮或按“F3”键、“F
5”键进行控制。
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6) 测量(SWEEP)
进行所选贴片头的激光测量(SWEEP)。
SWEEP可在检测区域内旋转对象物体，并根据已指定的算法，求出阴影宽度最小部分。测量结
果，在第1次状态显示中显示最初检测出的第1最小宽度，第2次中显示第2次检测出的最小宽
度。(参见图9-4-1-3-1)
在选中控制项目的“测量(SWEEP)”时，选择“执行(1
)”、“LA面(3)”按钮或按下“F3”键、
“F5”键控制。
7) 图像显示
显示所选贴片头的激光传感器的图像数据。
在选中控制项目的“图像显示”时，选择“执行(1)”按钮或按下“F3”键控制。
请确认激光水平值在70以上，而且均匀地聚集在一起。
如果发生急剧下降，或出相数值极低(65以下)的情况，请清扫激光面。
图 9-4-1-3-2 图像显示例
※ 激光水平值：在受光部接收从发光部发出的光时，明亮度用数值 0(暗)～255(亮)来表示。因
此，有脏污等时，水平值会下降。
8) 边缘检查
进行所选贴片头的激光传感器的边缘检查(检测脏污)。
请将贴片头或吸嘴移动到比激光面更上方的位置后进行。
在选中控制项目的“边缘检查”时，选择“执行(1
)”按钮或按下“F3”键控制。
激光水平值