KE-2000R_InstructionManual_C_Rev00说明.pdf - 第812页
第2部 功能详细篇 第1 2章 选项元件 12-26 12-9-2-3 检验判断标准 ■ 共线性检查(仅限于引脚元件) 用图像数据编辑的共线检查“判断值”，检查各边上的引脚上下方向的弯曲。 ◇ 检查的位置可设置为图像数据编辑的“扫描偏移量” 图 12-9-2-4 扫描位置偏移说明 ■ 共面性检查 用图像数据编辑的共线检查“判定值”，检查引脚上下方向的弯曲。 扫描位置偏移
第2部 功能详细篇 第12章 选项元件
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◆ 以 3 点法求出引脚元件的共面性(EIAJ 规定的方法：默认)
在通过任意3根端子最下点的几何平面中，其他端子的最下点全部在组件主体侧，组件重心在
该3点所构成的三角形内部或边上的平面。但不受自身重量的影响。
如满足上述条件的组合有多个，则采用共面值大的组合。
图 12-9-2-2 用 3 点法计算出共面
◆ 以最小◇平方法求出引脚元件的共面性
最小平方法：根据所有端子最下点用最小平方法所求出的平面，其与组件主体侧最远端子的
最下点所连成的平面相对，到最远端子的距离定为共面性。
图 12-9-2-3 用最小平方法求出共面性
◆ 以最小平方法求出球元件的共面性(EIAJ 规定的方法)
从所有球顶点用最小平方法求出的平面，其与组件主体最远的球顶点所连成的平面相对，到
最远的球的距离定为共面。
Α
根据最下方的点求出的平面
用最小平方法求得的平面性
第2部 功能详细篇 第12章 选项元件
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12-9-2-3 检验判断标准
■ 共线性检查(仅限于引脚元件)
用图像数据编辑的共线检查“判断值”，检查各边上的引脚上下方向的弯曲。
◇ 检查的位置可设置为图像数据编辑的“扫描偏移量”
图 12-9-2-4 扫描位置偏移说明
■ 共面性检查
用图像数据编辑的共线检查“判定值”，检查引脚上下方向的弯曲。
扫描位置偏移
第2部 功能详细篇 第12章 选项元件
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12-9-3 规格概要
(1) 对象元件
QFP、SOP、BGA、连接器
※ 仅限于用 VCS 识别时
若为球元件(BGA)，仅限于识别种类指定为整个球(整个球基板、整个球陶瓷)时。
用通用图像制作的元件不适用。
(2) 分辨率、精度
① 分辨率：1μｍ
② 精度：±20μｍ(JUKI标准量规测量时)
由于连接器探针的接触痕等，端子上有伤痕的元件，或引脚元件中有时若端子面的形
状不是矩形，或者测量面的形状不是平面，则不能进行正确判断。
(3) 测量模式、元件尺寸
测量模式分“标准模式”和“高精细模式”。
标准模式以80mm/s的速度，高精细以20mm/s的速度在传感器上进行扫描。
表 12-9-3-1 不同测量模式的元件尺寸
项目 标准模式 高精细模式
间距 0.4mm 以上 0.3mm 以上
引脚宽 0.18mm 以上 0.12mm 以上
引脚长 0.5mm 以上 0.5mm 以上
统一 26mm×100mm 以下 26mm×50mm 以下
引脚元件
元件
尺寸
分类 50mm×100mm 以下 50mm×50mm 以下
间距 0.81mm 以上 0.5mm 以上
引脚直径 0.51mm 以上 0.3mm 以上
统一 26mm×100mm 以下 26mm×50mm 以下
球元件
元件
尺寸
分类 50mm×100mm 以下 50mm×50mm 以下
◆ 切换标准模式与高精细模式时，多棱镜的旋转速度切换需 3 秒钟。所以，在生产
混合使用标准模式和高精细模式的元件时，由于切换需要时间，因此将对生产节
拍产生影响。
◆ 元件高度：12mm 以下（20mm 规格、25mm 规格时，分别为 20mm、25mm 以下)。
但长边超过 50mm，短边超过 45mm 的元件，其高度为 8mm 以下。
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