KE-2000R_InstructionManual_C_Rev00说明.pdf - 第814页
第2部 功能详细篇 第1 2章 选项元件 12-28 (4) 可测量的范围 可测量范围为1mm以内，超出此范围，就会产生错误。 图 12-9-3-1 元件可测量的范围 (5) 重测 可设定产生测量错误时，重新测量的次数。(参照机器设置“8-4-10-11章”) (6) 测量输入参数 ① 测量时的共面性判断值 ② 电极规格：宽度、长度(仅限于引脚元件) ③ 引脚光泽信息：无光泽/标准/有光泽(仅限于引脚元件) ④ 引脚亮度阈值 ⑤ 测量时…
第2部 功能详细篇 第12章 选项元件
12-27
12-9-3 规格概要
(1) 对象元件
QFP、SOP、BGA、连接器
※ 仅限于用 VCS 识别时
若为球元件(BGA)，仅限于识别种类指定为整个球(整个球基板、整个球陶瓷)时。
用通用图像制作的元件不适用。
(2) 分辨率、精度
① 分辨率：1μｍ
② 精度：±20μｍ(JUKI标准量规测量时)
由于连接器探针的接触痕等，端子上有伤痕的元件，或引脚元件中有时若端子面的形
状不是矩形，或者测量面的形状不是平面，则不能进行正确判断。
(3) 测量模式、元件尺寸
测量模式分“标准模式”和“高精细模式”。
标准模式以80mm/s的速度，高精细以20mm/s的速度在传感器上进行扫描。
表 12-9-3-1 不同测量模式的元件尺寸
项目 标准模式 高精细模式
间距 0.4mm 以上 0.3mm 以上
引脚宽 0.18mm 以上 0.12mm 以上
引脚长 0.5mm 以上 0.5mm 以上
统一 26mm×100mm 以下 26mm×50mm 以下
引脚元件
元件
尺寸
分类 50mm×100mm 以下 50mm×50mm 以下
间距 0.81mm 以上 0.5mm 以上
引脚直径 0.51mm 以上 0.3mm 以上
统一 26mm×100mm 以下 26mm×50mm 以下
球元件
元件
尺寸
分类 50mm×100mm 以下 50mm×50mm 以下
◆ 切换标准模式与高精细模式时，多棱镜的旋转速度切换需 3 秒钟。所以，在生产
混合使用标准模式和高精细模式的元件时，由于切换需要时间，因此将对生产节
拍产生影响。
◆ 元件高度：12mm 以下（20mm 规格、25mm 规格时，分别为 20mm、25mm 以下)。
但长边超过 50mm，短边超过 45mm 的元件，其高度为 8mm 以下。
L
L
L
第2部 功能详细篇 第12章 选项元件
12-28
(4) 可测量的范围
可测量范围为1mm以内，超出此范围，就会产生错误。
图 12-9-3-1 元件可测量的范围
(5) 重测
可设定产生测量错误时，重新测量的次数。(参照机器设置“8-4-10-11章”)
(6) 测量输入参数
① 测量时的共面性判断值
② 电极规格：宽度、长度(仅限于引脚元件)
③ 引脚光泽信息：无光泽/标准/有光泽(仅限于引脚元件)
④ 引脚亮度阈值
⑤ 测量时的激光强度：0～7
⑥ 测量高度偏移
⑦ 扫描位置偏移(从引脚尖端开始测量的位置)(仅限于引脚元件)
⑧ AGG：0～5
⑨ 测量模式
(7) 测量结果输出
对设置值进行良否判断
所有端子的高度信息及优劣判断
(8) 激光强度
激光： 1级(JISC6802､IEC60825-1)
850mm红外半导体激光(不可见光)
1mm
第2部 功能详细篇 第12章 选项元件
12-29
12-9-4 机器设置
进行共面检查时，必须设定“机器设置”。
启动“机器设置”。
图 12-9-4-1 机器设置画面
1) 在菜单栏中，选择“使用单元”/“选项使用单元”。
图 12-9-4-2 选项使用单元
¾ 请用按钮指定“共面检测”。
设置为：在按钮为凸状态时不使用，凹状态时为使用。