KE-2000R_InstructionManual_C_Rev00说明.pdf - 第809页
第2部 功能详细篇 第1 2章 选项元件 12-23 12-9 共面性处理 12-9-1 功能概要 本设备利用扫描型激光变位仪来检测电子元件共面性的装置。 扫描型激光变位仪是用受光镜将照射到测量对 象的光斑所反射、散射的光进行聚光，通过在 位置传感器上制作光斑图像，以非接触方式测量变位的仪器。 以一定的速度沿激光扫描方向(X方向)和直行方向(Y方向)移动被测量元件， 进行元件的3维 形 状测量，得出由各像素组成的高度信息的距离图像。 ◇…
第2部 功能详细篇 第12章 选项元件
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3) 吸取数据
吸取数据与使用普通吸嘴时相同。因此无需示教夹持臂的位置或到元件上底面顶靠部分的高
度等。
① XY坐标：
以元件中心为基准。[夹持位置]、[水平间隙]、[固定臂的偏移量]移动到补充修正后的坐标。
为了在生产中吸取时包含臂长度补偿量，示教时夹持吸嘴的臂尖端在元件侧面以外的位置进
行示教。按HOD的ENTER键确定示教坐标后,经过逆补充修正的坐标反映在吸取数据中。以摄像
示教开始后,在示教中切换到头部时，不需要补充修正值。
② Z坐标：
以吸嘴尖端(固定臂尖端与通常的吸嘴尖端为同一高度)为基准。为了在生产时包含臂长度补
偿量进行吸取，示教时夹持吸嘴的臂尖端在元件上部的高度处进行示教。
4) 安装在 ATC 上的方向
将夹持吸嘴安装到ATC上，使从正面看ATC装置时，夹持吸嘴的固定臂(图①)在后侧，摇臂(图
②)在前侧。
つめ深さ
②
①
①
②
卡爪深度
第2部 功能详细篇 第12章 选项元件
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12-9 共面性处理
12-9-1 功能概要
本设备利用扫描型激光变位仪来检测电子元件共面性的装置。
扫描型激光变位仪是用受光镜将照射到测量对象的光斑所反射、散射的光进行聚光，通过在
位置传感器上制作光斑图像，以非接触方式测量变位的仪器。
以一定的速度沿激光扫描方向(X方向)和直行方向(Y方向)移动被测量元件，进行元件的3维形
状测量，得出由各像素组成的高度信息的距离图像。
◇ 本装置根据贴片机预先发送的元件信息，利用得出的距离图像来判断元件的优劣(电极的高度
检查)。
共面性传感器
VCS 装置
图 12-9-1-1 功能概要图
多棱镜
激光束
图 12-9-1-2 装置外观图
第2部 功能详细篇 第12章 选项元件
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12-9-2 共面性检查内容
12-9-2-1 共线性检查
检查有引脚的边的“上下方向的弯曲”。
◇ 该检查用“一次扫描”进行。
例如，用一次扫描来检查“QFP等的4边元件为4边”，“SOP等的2边元件为2边”的各边。
图 12-9-2-1 元件检查的说明
12-9-2-2 共面性检查
求出共面的方法有两种。
QFP/SOP可用EIAJ规定的方法或最小平方法求出共面(端子最下面的均匀性)。
■ 出厂时的设置为 EIAJ 规定的方法。
可按机器设置进行设置变更。(参照机器设置的“8-4-10-11章”)
◇ QFP 用 EIAJED-7401-4，SOP 用 EIAJED-7304-1 或最小平方法。
◇ 球元件用 EIAJED-7304。
◇ EIAJ 规定的方法，从假定平面到所有端子的最下点，其铅垂方向距离的偏差中，到最偏离的
端子最下点的距离为共面的值。
计量基准线
引脚下方向弯曲
检查元件
L
共线性即平行性。
共线性只能适用于引脚元件。