FX-3_Instruction_Manual_Rev00_C.pdf - 第392页

第1部 基本编 第4章 制作生产程序 4-62 元件种类 测定位置 测定高度 SOT レーザ測定 位置 モールド部 部品高さ t -γ -r r=0.25 SOP HSOP レーザ測定 位置 モールド部 部品高さ t -0.7t -0.7×t SOJ レーザ測定 位置 モールド部 部品高さ t -0.65t -0.65×t QFP レーザ測定 位置 モールド 部 部品高 さ t -0.7t -0.7×t QFN レーザ測定位置 モールド…

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第1部 基本编 第4章 制作生产程序
4-61
(3)激光高度
设置激光定心时的测量高度。
输入从吸嘴顶端到激光照射到的测量位置的距离。
虽然根据元件高度与元件种类自动决定初始值,但有时不同的元件(激光测定位置为圆筒形或
透明时等情况下),需要改变初始值。
此外,引脚前端或元件的表面/背面等不太遮挡激光的部分与激光等高时,有时也会出现错
误。请设置可进行稳定识别的高度。
默认值
激光高度的默认值有时根据元件的种类和元件高度来设置。
下表给出了元件种类和激光高度的默认值的关系。
4-3-5-2-3-1 元件种类和激光高度的默认值的关系
元件种类 测定位置 测定高度(mm)
方形芯片
レーザ測定位置
部品高さ
 t
t
--
2
2
t
-
圆筒形芯片
レーザ測定位置
部品高さ
 t
t
--
2
2
t
-
铝电解电容器
レーザ測定位置
部品高さ
 t
-(t-β)
-(t-β)
β=0.35
GaAsFET
部品高さ
t
レーザ測定
-0.5
-0.5
元件高度
激光测定位置
激光测定位置
激光测定位置
激光测定位置
β
(
继续
)
β
0
-Z
吸嘴顶端
激光高度
元件高度
元件高度
元件高度
第1部 基本编 第4章 制作生产程序
4-62
元件种类 测定位置 测定高度
SOT
レーザ測定位置
モールド部
部品高さ
t
-r
r=0.25
SOP
HSOP
レーザ測定位置
モールド部
部品高さ
t
-0.7t
-0.7×t
SOJ
レーザ測定位置
モールド部
部品高さ
t
-0.65t
-0.65×t
QFP
レーザ測定位置
モールド
部品高
t
-0.7t
-0.7×t
QFN
レーザ測定位置
モールド
部品高
t
-0.5t
-0.5×t
QFJ(PLCC)
β
レーザ測定位置
モールド部
部品高さ
t
-(t - β)
β = 0.4
PQFP(BQFP)
レーザ測定位置
モールド部
部品高さ
t
-0.45t
-0.45×t
TSOP
レーザ測定位置
モールド部
部品高さ
t
-0.7t
-0.7×t
TSOP2
レーザ測定位置
モールド
部品高
t
-0.7t
-0.7×t
元件高度
激光测定位置
激光测定位置
模部
模部
(
继续
)
激光测定位置
模部
元件高度
激光测定位置
模部
元件高度
元件高度
元件高度
激光测定位置
元件高度
激光测定位置
元件高度
激光测定位置
元件高度
激光测定位置
模部
模部
模部
模部
激光测定位置
元件高度
模部
第1部 基本编 第4章 制作生产程序
4-63
元件种类 测定位置 测定高度
BGA
FBGA
レーザ測定位置
部品高さ
t
-0.86t
-0.86×t
网络电阻
レーザ測定位置
部品高さ
t
--
2
t
与方形芯片
相同
微调电容器
レーザ測定位置
部品高さ
t
モールド部
-(t - 0.7)
- (t - 0.7)
单向引脚插头
双向引脚插头
Z 形脚插头
レーザ測定位
部品高さ
t
-0.5t
- 0.5×t
J 引脚插座
レーザ測定位置
部品高
t
0
0
鸥翼式插座
レーザ測定位置
部品高
t
0
0
带减震器的插座
レーザ測定位置
部品高さ
t
0
0
其它元件
レーザ測定位置
部品高さ
t
モールド部
-0.5t
-0.5×t
1:对 0603 电阻等方形芯片元件贴片,当发生角度偏差时,在元件数据的“定心”标签画
面中,将“激光高度”的数值向元件上面移动–t/3 (默认值为–t/2),有时可以改善。
元件高度
激光测定位置
元件高度
元件高度
元件高度
模部
激光测定位置
激光测定位置
激光测定位置
激光测定位置
激光测定位置
激光测定位置
激光测定位置
元件高度
元件高度
元件高度
模部
元件高度