FX-3_Instruction_Manual_Rev00_C.pdf - 第507页
第1部 基本编 第4章 制作生产程序 4-177 4-5-4-2-3 测量操作 (1) 单独测量 只对被选择的元件进行测量。 1) 设置单独测量的条件 从菜单栏中选择“机器操作”/“测量”/“单独测量”后，显示如下画面。 图 4-5-4-2-3-1 设置单独测量条件 a) 测量元件 显示要测量元件的内容。 b) 吸取坐标 显示吸取元件的吸取位置的内容。可以更改为 前代替元件和后代替元件的吸取位置。当 没有吸取数据时，不显示各项目，也不能…
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(3) 关于进行测量时的各项运行
1) 用于吸取的贴片头
可自动选择用于吸取的贴片头。使用贴片头时，优先使用已安装的吸嘴，以减少吸嘴的
更换次数。
根据吸嘴的贴片头安装情况，每次测量时，吸取的贴片头可能不同。
2) 测量后归还元件
按照设置，测量后的元件将被归还原来的位置或被废弃。具体因包装方式而异（如下表
所示）。废弃时，根据元件数据中“元件废弃”的设置，废弃到指定的地方。
1mm以下的元件，归还时可能出现元件直立或翻倒，请根据询问选择运行。
表 4-5-4-2-2-3 元件归还/废弃条件
包装方式 条件 1 条件 2 归还 废弃
32mm 供料器 － ○
外形尺寸短边 1mm 以下 确认*1
带状
以外
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○*2
外形尺寸短边 1mm 以下 确认*1
散装
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○*2
管状 － ○
*1 显示提示信息，选择是将元件归还还是废弃。连续测量时，在开始前询问。
*2 当废弃方法为“IC 回收带”“元件保护”时，将按设定进行处理。
3) 选择用于吸取的供给装置
如果同一元件有多个供给装置(吸取数据)，初始值为从最初输入的数据开始吸取元件。
单独测量时可根据需要改变供给装置。
4) 改变吸取坐标
无法顺利吸取时，可用手动输入或进行坐标示教，改变吸取坐标。
5) 手动吸取
当没有吸取数据时，可用手动将元件安装到吸嘴上。但在这种情况下，不能输入吸取坐
标。也不能操作供料器。
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4-5-4-2-3 测量操作
(1) 单独测量
只对被选择的元件进行测量。
1)设置单独测量的条件
从菜单栏中选择“机器操作”/“测量”/“单独测量”后，显示如下画面。
图 4-5-4-2-3-1 设置单独测量条件
a) 测量元件
显示要测量元件的内容。
b) 吸取坐标
显示吸取元件的吸取位置的内容。可以更改为前代替元件和后代替元件的吸取位置。当
没有吸取数据时，不显示各项目，也不能进行吸取位置的变更、顶推供料器和示教。
● 送料
顶推一下供料器，供给元件(32mm的纸带除外)。
● 把示教结果反映在吸取数据上
选择是否将使用示教功能的示教结果反映在吸取数据。不勾选时，坐标仅适用于此次
吸取时。
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● 变更吸取坐标的方法
用于测量的元件的吸取位置与实际有差异时，可使用示教功能进行贴片坐标的示教。
此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。
步骤1) 要示教XY坐标时，将光标移动到X或Y坐标。
（要进行Z坐标的示教时，请将光标移动到Z坐标。）
步骤 2）按下功能栏的“示教”按钮，打开示教画面。
进行坐标示教，按下“OK”按钮，取得所示教的坐标数据。
c) 测量项
选择需要测量的项目。默认为选择所有可测量的项目。根据元件类型，可测量的项目有
所不同。
d) [单独测量] 按钮
执行单独测量。
e) [前代替元件] 按钮、[后代替元件] 按钮
如果当前显示的元件有代替元件时，显示此项。
f) [取消] 按钮
结束单独测量，返回到原来的画面。