KE2000R动作说明书.pdf - 第94页
R e v 0 . 0 0 动作说明书 3-14-6 共面测定方式的不同 KE-2000 共勉装置可以安装共面测定方式 测 换使用。 可以选择的测定方式有三点发和最小自乘平面法，无效选择三点法。 选择了三点法后， 为了合成以最下点三点的高度差为基准的设想平面， 反复测定的精度用最小自乘平面 法进行比较。 最小自乘平面法的共面检查 电 ，用全读取的共面 电 范围 ( 最上点 - 最下点 ) 来进行比较 。 共面 电 范围 ( 最上点 - …
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3-14-5 测定模式的测换
因为标准→高精度，高精度→标准的测定模式测换需要传传(约 3.00[S])，在同一生产程序内尽量不测换
测定模式继续生产。
通常的生产中，用标准模式来实施共面测定，但是对于在生产程序中只能用高精度模式来测定的元件 (引
角传隔 0.30mm 的 QFP、SOP 等)在不超过最适合化识装范围或不超过元件范围外的范围，把只能用高精
度模式测定的元件集中在一处进行识装。
标准→高精度，高精度→标准的测定模式发生传，在最初的元件测定前发生约 3.00[S]的模式测换传传。
共勉测定模式以拥护设定为优先。
共面测定模式自动设定用标准模式高精度模式测定的元件必须用标准模式进行测定。
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3-14-6 共面测定方式的不同
KE-2000 共勉装置可以安装共面测定方式测换使用。
可以选择的测定方式有三点发和最小自乘平面法，无效选择三点法。
选择了三点法后，为了合成以最下点三点的高度差为基准的设想平面，反复测定的精度用最小自乘平面
法进行比较。
最小自乘平面法的共面检查电，用全读取的共面电范围(最上点-最下点)来进行比较。
共面电范围(最上点-最下点)以上传，把该元件作为异常。
共面异常的元件的引角内，共面电在±电/2 以上的引脚作为共面异常的引脚。
BGA、FBGA 的共面测定方式为最小自乘平面固定法。
BGA、FBGA 识识关轴如果不是全球、陶瓷全球的话不实行共面检查 (外轴球的共面检测没有检查的意
义)。
视视定心可能的 BGA、FBGA，有的球直径元件不能进行检查。共面检查可能的球直径为 0.30mm∼
1.00mm。
单方向引脚插贴的共面检查与共图检查相同。
共图测定方式的指定被无视。
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3-14-7 共图测定方式
KE-2000 共面装置与 KE-700 同视可以进行共图检查。
有无共图检查实施，可以唯一地安装测换。
无效的图性检查，用共图检查电的 100%电实施。
测定电等级可以用安装进行测换(0∼100%)。
0%被指定的共图检查不实施。
共图检查在共面检查前实施，共面检查异常传，不实施共面检查。
不能在共图检查实施操作选购中实施。
操作选项内的共图、共面的实施未实施是否为异常的设定，共图检查本身的实施未实施也只能由安装决
定。
另外，共面装置不能只实施共图检查。
共图检查，检查各边共图电范围(最上点-最下点)，范围在测定电以上传，该边为共图异常。
被判断为共图的边的引脚内、共图电在±测定电/2 以上的引脚作为共图异常。
BGA、FBGA 元件没有共图检查。
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