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3 Technische Daten und Baugruppen Be triebsanleitung SIPLACE SX1/ SX2 Edition V2 und V3 3.9 LP-Transportsystem Ab Softwareversion SR.713.1 Ausgabe 12/202 0 154 3.9.6 LP-Kamera, T yp 34 GigE Artikel Nr .: 03101402-xx 3.9.…
Betriebsanleitung SIPLACE SX1/SX2 Edition V2 und V3 3 Technische Daten und Baugruppen
Ab Softwareversion SR.713.1 Ausgabe 12/2020 3.9 LP-Transportsystem
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3.9.5.2 LP-Wölbung beim Bestücken
3
3
Änderungen der Oberflächenposition werden automatisch von den Funktionen zum Erlernen der
Höhe übernommen.
3
3
LP-Wölbung nach oben max. 2,5 mm.
LP-Wölbung nach unten max. 2,5 mm.
LP-Unterstützung
Um die Bestückqualität und die Bestückgeschwindigkeit nicht zu beeinträchtigen, wird empfohlen,
eine LP-Unterstützung, z. B. Smart Pin Support, zu verwenden, sodass die LP-Wölbung nach unten
0,5 mm nicht überschreitet.
3 Technische Daten und Baugruppen Betriebsanleitung SIPLACE SX1/SX2 Edition V2 und V3
3.9 LP-Transportsystem Ab Softwareversion SR.713.1 Ausgabe 12/2020
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3.9.6 LP-Kamera, Typ 34 GigE
Artikel Nr.: 03101402-xx
3.9.6.1 Aufbau
3
Abb. 3.9 - 5 LP-Kamera, Typ 34 GigE
(1) Kameraverstärker
(2) LP-Kameraoptik und Beleuchtung
3.9.6.2 Technische Daten
3
(1)
(2)
LP-Marken Bis zu 3 (Einzelschaltungen und Mehrfachnutzen),
bis zu 6 bei der Option "Lange LP" (optionale Marken werden
von der Optimierung ausgegeben).
Lokale Marken Bis zu 2 pro LP (können verschiedenen Typs sein)
Bibliothekspeicher Bis zu 255 Passmarkentypen pro Einzelschaltung
Bildverarbeitung Kantendetektionsmethode (Singular Feature) auf Basis der
Grauwerte
Beleuchtungsart Auflicht (3 frei programmierbare Ebenen)
Erkennungszeit pro
Marke/Schlechtmarke
20 ms - 200 ms
Gesichtsfeld 5,78 mm x 5,78 mm
Abstand der Fokusebene 28 mm
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3.9.6.3 Marken-Kriterien
3
3.9.6.4 Inkpunkt-Kriterien
3
2 Marken ermitteln
3 Marken ermitteln
X- / Y-Position, Verdrehwinkel mittlerer LP-Verzug
zusätzlich: Scherung, Verzug separat in X- und Y-Richtung
Markenformen Synthetische Marken: Kreis, Kreuz, Quadrat, Rechteck, Raute,
kreisförmige, quadratische und rechteckige Konturen, Doppel-
kreuz
Muster: beliebig
Markenoberfläche
Kupfer
Zinn
Ohne Oxidation und Lötstopplack
Wölbung
≤ 1/10 der Strukturbreite, jeweils guter Kontrast zur
Umgebung
Maße synthetischer Marken
Min. X/ Y-Größe für Kreis und Rechteck:
Min. X/ Y-Größe für Kreisring und Rechteckrahmen:
Min. X/ Y-Größe für Kreuz:
Min. X/ Y-Größe für Doppelkreuz:
Min. X/ Y-Größe für Raute:
Min. Rahmenbreite für Kreisring und Rechteckrahmen:
Min. Balkenbreite/Balkenabstand für Kreuz, Doppelkreuz:
Max. X/ Y-Größe für alle Markenformen:
Max. Balkenbreite für Kreuz, Doppelkreuz:
Min. Toleranzen generell:
Max. Toleranzen generell:
0,25 mm
0,3 mm
0,3 mm
0,5 mm
0,35 mm
0,1 mm
0,1 mm
3 mm
1,5 mm
2% vom Nennmaß
20% vom Nennmaß
Maße von Mustern
Min. Größe
Max. Größe
0,5 mm
3 mm
Markenumgebung Freiraum um die Passmarke nicht notwendig, wenn sich inner-
halb des Suchfeldes keine ähnliche Markenstruktur befindet.
Methoden - Synthetisches Markenerkennungsverfahren
- Mittlerer Grauwert
- Histogramm-Methode
- Template Matching
Größe der Markenformen bzw.
Strukturen
Synthetische Marken
Andere Verfahren
Maße synthetischer Marken siehe Abschnitt 3.9.6.3
Marken-
Kriterien, Seite 154.
min. 0,3 mm
max. 5 mm
Abdeckmaterial Gut deckend
Erkennungszeit Je nach Methode 20 ms - 0,2 s