00196043-05 - SG X und X4I FSE_de.pdf - 第247页

C&P20A Abhol- und Bestückzyklus am C&P20A Bestückung des 10. Bauelemente s 247 Student Guide SIPLACE X-Serie und X4I FSE Bestückung des 10. Bauelementes 7.4.16 Bestückung des 10. Bauelementes Bestückung des 11. B…

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C&P20A
Bestückung des 1. Bauelementes Abhol- und Bestückzyklus am C&P20A
Student Guide SIPLACE X-Serie und X4I FSE 246
Bestückung des 1. Bauelementes
7.4.14 Bestückung des 1. Bauelementes
Überprüfung BE-Sensor an Segment 1
7.4.15 Überprüfung BE-Sensor an Segment 1
Sehen Sie dazu auch...
7.4.13 Überprüfung BE-Sensor des Bauelementes an Segment1 [ ➙ 245]
Bestückung des 1. Bauelementes
Sternposition 0°
Visionsystem: Bauelement 11 wird optisch zentriert
Abhol-/Bestückstation: Z-Achse abwärts zum
Bestücken des 1. Bauelementes.
A : In diesem Bereich werden die zuvor abgeholten
Bauelemente in den Bestückwinkel gedreht.
B : In diesem Bereich werden die Bauelemente in
ihren Bestückwinkel korrigiert.
Überprüfung BE-Sensor nach Bestückung
Sternposition 0°
Visionsystem: Bauelement 11 wird optisch zentriert
Abhol-/Bestückstation: Beim Aufwärtspositionieren
der Z-Achse wird im BE-Sensor überprüft ob Bauteil
vom Segment 1 bestückt worden ist.
A : In diesem Bereich werden die zuvor abgeholten
Bauelemente in den Bestückwinkel gedreht.
B : In diesem Bereich werden die Bauelemente in
ihren Bestückwinkel korrigiert.
Vakuumüberprüfung: ob wieder auf Vakuum
zurückgeschaltet wurde.
HINWEIS
Die Überprüfung der Bauelemente durch den BE-Sensor erfolgt auch bei allen weiteren
Pipetten.
C&P20A
Abhol- und Bestückzyklus am C&P20A Bestückung des 10. Bauelementes
247 Student Guide SIPLACE X-Serie und X4I FSE
Bestückung des 10. Bauelementes
7.4.16 Bestückung des 10. Bauelementes
Bestückung des 11. Bauelementes
7.4.17 Bestückung des 11. Bauelementes
Bestückung des 10. Bauelementes
Sternposition 162°
Visionsystem: Bauelement 20 wird optisch zentriert
Abhol-/Bestückstation: Bestückung des
10. Bauelementes (hier: rot)
Visionsystem wird im nächsten Zentriervorgang das
BE an Segment 1 des anderen Portals messen (hier
blau).
BE-Sensor: Überprüfung vor und nach Bestücken, ob
Bauteil an der Pipette ist bzw. ob bestückt worden ist.
(siehe "7.4.13 Überpfung BE-Sensor des
Bauelementes an Segment1" [ ➙ 245] "7.4.15
Überprüfung BE-Sensor an Segment1" [ ➙ 246])
A : In diesem Bereich werden die zuvor abgeholten
Bauelemente in den Bestückwinkel gedreht.
B : In diesem Bereich werden die Bauelemente in
ihren Bestückwinkel korrigiert.
Bestückung des 11. Bauelementes
Sternposition 180°
Visionsystem: Optische Zentrierung des
1. Bauelementes des anderen Portals (hier: blau)
Abhol-/Bestückstation: Bestückung des
11. Bauelementes (hier: rot)
BE-Sensor: Überprüfung vor und nach Bestücken, ob
Bauteil an der Pipette ist bzw. ob bestückt worden ist.
(siehe "7.4.13 Überpfung BE-Sensor des
Bauelementes an Segment1" [ ➙ 245] "7.4.15
Überprüfung BE-Sensor an Segment1" [ ➙ 246])
A : In diesem Bereich werden die zuvor abgeholten
Bauelemente in den Bestückwinkel gedreht.
B : In diesem Bereich werden die Bauelemente in
ihren Bestückwinkel korrigiert.
C&P20A
Bestückung des 20. Bauelementes Abhol- und Bestückzyklus am C&P20A
Student Guide SIPLACE X-Serie und X4I FSE 248
Bestückung des 20. Bauelementes
7.4.18 Bestückung des 20. Bauelementes
Abhol- un d Bestückzyklus für die nächsten Bauelemente
7.4.19 Abhol- und Bestückzyklus für die nächsten Bauelemente
Nachdem alle Bauelemente des ersten Kopfzyklus auf der Leiterplatte bestückt wurden, bewegen
die Portalachsen den Bestückkopf zur Abholposition für den nächsten Abholzyklus.
Der nächste Abholzyklus für die Bauelemente 21 - 40 wird durchgeführt.
Die weiteren Abholzyklen werden ebenso durchgeführt. Wenn nötig führt die Maschine
Reparaturläufe durch.
Segment mit eine m "defekten Bauel ement“
7.4.20 Segment mit einem "defekten Bauelement“
Wenn die optische Zentrierung eines Bauelementes (Ident.-Fehler) oder die BE-Erkennung beim
Bestücken fehlschlägt, wird das Bauelement nicht bestückt und bleibt an der Pipette.
Die Drehstation dreht diese Pipette trotzdem auf den Abholwinkel des neuen Bauelementes vor,
wenn sich dieses Segment in dem mit A gekennzeichneten Bereich befindet.
Wenn dieses Segment in Abholposition ist
wird die Abwurfprozedur aktiviert und
die X-/Y-Achsen bewegen sich zur Abwurfposition des Portals,
das Bauelement wird durch Blasluft nach unten abgeworfen,
das neue Bauelement wird aufgenommen.
Das abgeworfene Bauelement wird im Rahmen eines Reparaturlaufes nach allen, durch das Programm
vorgegebenen Bestückzyklen für diesen Bestückkopf bestückt.
Beendigung der LP-Bestückung
7.4.21 Beendigung der LP-Bestückung
Nach Bestückung des letzten Bauelementes bewegen die Portalachsen die Bestückköpfe zur
Warteposition.
Ein optischer Pipettenscan wird nach der ersten, bzw. abhängig vom Scan-Parametersatz, nach der
jeweiligen LP durchgeführt.
Die SIPLACE-Bestückungsstation aktiviert das Transportsystem und bewegt die Leiterplatte zum
Zwischen-, bzw. Ausgabeband.
Schließlich meldet die SIPLACE-Bestückungsstation die Anzahl der verbrauchten Bauelemente
(bestückte und abgeworfene) an den Rechner mit OIS (Operator Information System).
Bestückung des 20. Bauelementes
Sternposition 342°
Visionsystem: Optische Zentrierung des
10. Bauelementes des anderen Portals (hier: blau)
Abhol-/Bestückstation: Bestückung des
20. Bauelementes (hier: rot)
BE-Sensor: Überprüfung vor und nach Bestücken, ob
Bauteil an der Pipette ist bzw. ob bestückt worden ist.
(siehe "7.4.13 Überpfung BE-Sensor des
Bauelementes an Segment1" [ ➙ 245] "7.4.15
Überprüfung BE-Sensor an Segment1" [ ➙ 246])
A : In diesem Bereich werden die zuvor abgeholten
Bauelemente in den Bestückwinkel gedreht.
B : In diesem Bereich werden die Bauelemente in
ihren Bestückwinkel korrigiert.
Synchronisierung: Die andere Y-Portalachse wird
durch diese Y-Portalachse Positionierfreigabe zur
Bestückposition bekommen.