KE-3010A_20VA_20VRA使用说明书.pdf - 第611页

第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序 4-215 编号 元件类型 定中心 方式 测量项目 元件尺寸 吸取真空 压力 激光 高度 引脚 信息 CDS 高度 纵横 高度 19 带减震器的插座 激光 ○ ○ ○ 图像 ○ ○ ○ 20 其他元件 激光 ○ ○ ○ 21 双向引脚连接器 激光 △ ○ ○ ○ ○*2 图像 ○*1 ○ ○ ○*1, *2 ○ 22 带散热器 SOP 激光 △ ○ ○ ○ 图像 ○*1 ○ ○ ○ 23 F…

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第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
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4) 引脚信息测量功能
利用图像识别装置测量引脚信息。仅限于图像定中心的元件进行测量。测量方法如下。
对象元件 方式
图像识别元件 ①利用图像识别装置识别元件获取引脚信息。
↓
②将获得的值作为引脚尺寸。
5) CDS 高度测量功能(仅 KE-3020VA)
用激光测量 CDS 高度。测量方法如下所示。
对象元件 方式
图像识别元件 ①上下移动元件。
↓
②将元件的阴影部分范围作为高度尺寸。
(2) 元件类型本身的测量项目限制
因元件数据的元件类型不同，测量项目会受到下列限制。
编号
元件类型
定中心
方式
测量项目
元件尺寸
吸取真空
压力
激光
高度
引脚
信息
CDS
高度
纵横 高度
1
方形芯片 激光 ○ ○ ○ ○
2
圆筒形芯片 激光 ○ ○ ○ ○
3
铝电解电容
激光 ○ ○ ○
图像 ○ ○ ○
4 GaAsFET
激光 ○ ○ ○
图像 ○ ○ ○
5 SOT
激光 ○ ○ ○ ○
6 SOP
激光 △ ○ ○ ○
图像 ○*1 ○ ○ ○*1 ○
7 SOJ
激光 ○ ○ ○
图像 ○ ○ ○
8 QFP
激光 △ ○ ○ ○
图像 ○*1 ○ ○ ○*1 ○
9 PLCC(QFJ)
激光 ○ ○ ○
图像 ○ ○ ○
10 PQFP(BQFP)
激光 △ ○ ○ ○
图像 ○*1 ○ ○ ○*1 ○
11 TSOP
激光 △ ○ ○ ○
图像 ○*1 ○ ○ ○*1 ○
12 TSOP2
激光 △ ○ ○ ○
图像 ○*1 ○ ○ ○*1 ○
13 BGA
激光 ○ ○ ○
图像 ○ ○ ○
14
网络电阻 激光 ○ ○ ○
15
微调电容器 激光 ○ ○ ○
16
单向引脚连接器
激光 ○ ○ ○ ○*2
图像 ○ ○ ○*1, *2 ○
17
J 引脚插座
激光 ○ ○ ○
图像 ○ ○ ○
18
鸥翼形插座
激光 ○ ○ ○
图像 ○ ○ ○
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编号
元件类型
定中心
方式
测量项目
元件尺寸
吸取真空
压力
激光
高度
引脚
信息
CDS
高度
纵横 高度
19
带减震器的插座
激光 ○ ○ ○
图像 ○ ○ ○
20
其他元件 激光 ○ ○ ○
21
双向引脚连接器
激光 △ ○ ○ ○ ○*2
图像 ○*1 ○ ○ ○*1, *2 ○
22
带散热器 SOP
激光 △ ○ ○ ○
图像 ○*1 ○ ○ ○
23 FBGA
图像 ○ ○ ○
24
Z 引脚连接器
激光 ○ ○ ○
图像 ○ ○ ○
25
扩展引脚连接器 图像 ○ ○ ○
26
通用图像元件 图像 ○ ○ ○
27
方形芯片（LED） 激光 ○ ○ ○ ○
28 QFN
激光 ○ ○ ○
29
外形识别元件 图像 ○ ○ ○
○：可以测量。
△：可将定中心方式设定为“图像”后获得的测量结果加以利用。
*1 引脚根数仅限于每 1 列引脚在 7 根以上的元件。(SOP 14Pin 为可测量)
*2 由相同引脚形状构成，且引脚两端没有臂、金属零件的元件。
引脚信息，取决于被测量元件的引脚条件，有时可能无法测量。
测量功能的对象限于元件外形尺寸□33.5mm以下的元件。
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(3) 关于进行测量时的各项运行
1) 用于吸取的Head
可自动选择用于吸取的Head。使用Head时，优先使用已安装的吸嘴，以减少吸嘴的更换次
数。
根据吸嘴的Head安装情况，每次测量时，吸取的Head可能不同。
2) 测量后归还元件
按照设置，测量后的元件将被归还原来的位置或被废弃。具体因包装方式而异（如下表所
示）。
废弃时，根据元件数据中「元件废弃」的设置，废弃到指定的地方。
1mm以下的元件，归还时可能出现元件直立或翻倒，请根据询问选择运行。
包装方式 条件 1 条件 2 归还 废弃
带状
32mm 纸粘着供料器
－ ○
32mm 纸粘着供料器
以外
外形尺寸短边 1mm 以下 确认*1
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○*2
散装
外形尺寸短边 1mm 以下 确认*1
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○*2
托架
○ ○*2
MTC
○ ○*2
MTS
○ ○*2
管状
－ ○
*1 显示提示信息，选择是将元件归还还是废弃。连续测量时，在开始前询问。
*2 当废弃方法为「IC 回收带」「元件保护」时，将按设定进行处理。
3) 选择用于吸取的供给装置
如果同一元件有多个供给装置(吸取数据)，初始值为从最初输入的数据开始吸取元件。
单独测量时可根据需要改变供给装置。
4) 改变吸取坐标
无法顺利吸取时，可用手动输入或进行坐标示教，改变吸取坐标。
5) 手动吸取
当没有吸取数据时，可用手动将元件安装到吸嘴上。但在这种情况下，不能输入吸取坐标。
也不能操作供料器。