FX-1R_InstructionManual_C_Rev03a.pdf - 第343页
第 6 章 编辑辅助功能 6-71 (2) 对元件种类测量项目的限制 根据元件数据的元件类别,有的项目不能测量。 表 6.5-6 各种元件测量受限项目 测量项目 元件尺寸 号码 元件种类 定心方式 纵横 高度 吸取 真空压力 激光高度 1 方形芯片 激光 ○ ○ ○ ○ 2 圆筒型 激光 ○ ○ ○ ○ 3 铝电解电容 激光 ○ ○ ○ 4 GaAsFET 激光 ○ ○ ○ 5 SOT 激光 ○ ○ ○ ○ 6 SOP 激光 ○ ○ ○…

第 6 章 编辑辅助功能
6-70
② 元件高度测量功能
用激光测量元件高度。同时自动计算最适宜的激光高度和芯片站立的判定数
值。测量方法如下:
表 6.5-4 元件高度测量方法
对象元件
方法
激光识别元件 1)将元件上下移动。
↓
2) 以元件阴影范围为高度尺寸。
③ 元件真空压的测量功能
在吸取元件时,测量真空压。测量方法如下:
表 6.5-5 元件真空压的测量方法
对象元件 方法
激光识别元件 1) 吸取元件后取得贴片头真空压基准。
↓
2) 以取得的数值为贴片头真空基准。

第 6 章 编辑辅助功能
6-71
(2) 对元件种类测量项目的限制
根据元件数据的元件类别,有的项目不能测量。
表 6.5-6 各种元件测量受限项目
测量项目
元件尺寸
号码 元件种类 定心方式
纵横
高度
吸取
真空压力
激光高度
1 方形芯片 激光 ○ ○ ○ ○
2 圆筒型 激光 ○ ○ ○ ○
3 铝电解电容 激光
○ ○ ○
4
GaAsFET
激光
○ ○ ○
5
SOT
激光 ○ ○ ○ ○
6
SOP
激光
○ ○ ○
7
SOJ
激光
○ ○ ○
8
QFP
激光
○ ○ ○
9
PLCC (QFJ)
激光
○ ○ ○
10
PQFP (BQFP)
激光
○ ○ ○
11
TSOP
激光
○ ○ ○
12
TSOP2
激光
○ ○ ○
13
BGA
激光
○ ○ ○
14 网络电阻 激光
○ ○ ○
15 微调电容 激光
○ ○ ○
16 单向引脚连接器 激光
○ ○ ○
17 J 引脚插座 激光
○ ○ ○
18 鸥翼式插座 激光
○ ○ ○
19 带减震键插座 激光
○ ○ ○
20 其他元件 激光
○ ○ ○
21 双方向引脚连接器 激光
○ ○ ○
22
带有散热片的 SOP
激光
○ ○ ○
23
FBGA
激光
○ ○ ○
24 Z引脚连接器 激光
○ ○ ○
25 方形芯片 (LED) 激光 ○ ○ ○ ○
26
QFN
激光
○ ○ ○

第 6 章 编辑辅助功能
6-72
(3) 关于执行测量时的各种运行
① 吸取时使用的贴片头
自动选择用于吸取的贴片头。优先使用已经安装上的吸嘴,从而减少吸嘴的交换
次数。根据贴片头上的吸嘴安装情况,每次测量时吸取的贴片头有可能不同。
② 测量后的元件归还
测量后的元件有归还原先位置和废弃的两种处理方法。如下表所示,处理方法因
包装方式而异。废弃在什么地方在元件数据的[元件废弃]项目里设定。设定为[元件
保护]的,其废弃方法需按照设定进行。
1mm 以下的元件,归还时有可能出现元件站立、倒翻现象,可根据询问选择处理。
表 6.5-7 元件归还 / 废弃条件
包装方式
条件 1 条件 2 归还 废弃
32mm 送料器
- ○
外形尺寸短边 1 mm 以下 询问*1
带状
之外
外形尺寸短边 1 mm 以上 ○ ○*2
外形尺寸短边 1 mm 以下 询问*1
散装
外形尺寸短边 1 mm 以上 ○ ○*2
管状
- ○
*1 显示对话框之后,要选择是元件归还、或是废弃。在连续测量时,会在测量前
询问。
*2 废弃方法为[元件保护]时,按废弃处理。
③ 选择吸取时的供应装置
对同一元件有复数的供应装置(吸取数据)时,默认值为从最初输入的数据开始
吸取元件。只有在单独测量时供应装置才可根据要求变更。
④ 变更吸取坐标
在不能顺利地吸取元件时,手动输入或用 HOD 装置进行坐标示教,以变更吸
取坐标。
⑤ 手动吸取
在没有吸取数据时,可以手动将元件装到吸嘴上。在这种情况下,不能输入吸
取坐标。而且,也不能操作供料器。