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对于此类 “错件” 误报， 采用 “内派生” 操作， 单击①中的 【派生】 操作， 增加待用检测项标准 。 当 “错件” 误报时返回值与 判定范围 的下限差异不大 时，降低判定下 限，一般 为 5 个刻度值为单位 。 当采用“ OCV ”算法发生 “错 件”误报时 ，如下： 上图为 “错件” 误报窗体， 标准丝印为 “ 472 ” ， 待测丝印 为“ 268 ” ， 丝印发生改变 ，选择增 加丝印标准 ， 进行“内派生”操作，如 ①区域…
上图为字符框管理窗体，如下：
① 字符库区域：已训练的字符库。其中字符库的名称的长度不超过 2。
② 训练字符：已训练字符。字符分为大写字母、小写字母和数字。
③ 未训练字符：没有训练的字符。
提示
提示提示
提示：
：：
：训练
训练训练
训练 OK 的字符库至少需要训练
的字符库至少需要训练的字符库至少需要训练
的字符库至少需要训练 8 个样本
个样本个样本
个样本。
。。
。
当采用“TOC”算法发生“错件”误报时，如下：
上图为“错件”误报调试窗体，待测元件的本体色彩与亮度与标准本体的色彩和亮度差异不大，该状态下选
择调节抽色参数来消除误报。将①中的抽色参数的“亮度”由（33，67）调节为（33， 75），则该误报消除。
当待测元件的本体色彩和亮度与标准元件的本体色彩和亮度差异大时，如下图：
①
①①
①
②
②②
②
③
③③
③
①
①①
①
对于此类“错件”误报，采用“内派生”操作，单击①中的【派生】操作，增加待用检测项标准。当“错件”
误报时返回值与判定范围的下限差异不大时，降低判定下限，一般为 5 个刻度值为单位。
当采用“OCV”算法发生“错件”误报时，如下：
上图为 “错件”误报窗体，标准丝印为“472”，待测丝印为“268”，丝印发生改变，选择增加丝印标准，
进行“内派生”操作，如①区域中的【派生】，消除此类误报。或者“OCV”算法的返回值为 13.6，判定范
围为（0， 12）时，采取增大判定上限，将判定范围调节为（0， 15），则消除该误报。
①
①①
①
①
①①
①
当采用“Match”算法发生“错件”误报时，如下：
上图为采用“Match”算法的“错件”误报调试窗体，选用的操作为①中的【派生】，增加一个待用检测项。
当采用“OCR”算法发生“错件”误报时，可通过改变 ROI 范围来消除误报。
3.3.6 缺件
缺件缺件
缺件
缺件，是电子元器件的一个重要检测项，是元器件三大必须检测项之一。缺件采用的算法有“TOC”算
法、“OCV”算法、“Match”算法、“OCR”算法、“Histogram”算法、“Length”算法和“Pole”算法。其中
“TOC”算法、“OCV”算法、“Match”算法、“OCR”算法与“错件”中的“TOC”算法、“OCV 算法”、“Match”
算法、“OCR”算法一致。“Histogram”算法是通过分析区域的平均亮度来检测的，而“Pole”算法是通过检
测电容的两个电极要检测的，该 2 种算法都是针对于电容的缺件检测。
当“缺件”采用“Histogram”算法时，其注册窗体如下：
①
①①
①