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上图为“ Hole ” 算法下的 插件算法,说明 如下: ① ROI 区域:包括插 件的焊盘区域,外接插 件的椭圆焊盘。 ② 检测算法区域: 【检测算法 】选择“ Hole ” ,其他参数 见②区域。 ③ 插件的判定参数 :默认判定范围 为( 60 , 255 ) ,单位为像素。 ④ 插件焊盘的抽色 区域:默认抽色 范围为铜 箔的抽取参数, 见④区域 。 ⑤ 插件的参数区域 :插件的焊盘定 位参数和 检测算法,见⑤ 区域。 当插件发生误…

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6.3.3 虚焊
虚焊虚焊
虚焊
虚焊,是红胶检测中的一个常规检测项。它主要是通过检测焊盘上的铜箔成分来检测元件是否发生偏移。
它采用的是 PIN 算法,抽取铜箔成分,其注册窗体如下:
上图为“PIN算法下的“虚焊”注册窗体,说明如下:
ROI 区域:包括引脚框和焊锡框。引脚框为①中等实线框焊锡框为①中等虚线框
检测算法区域:【检测算法】为“PIN”算法。其中有少锡、虚焊、空焊三个子检测项。仅空焊为有效检
测项。其他参数见②区域
虚焊的判定范围空焊的默认判定范围为65 100少锡的判定范围为0 100虚焊的判定范围
为(0 100
虚焊的抽色参数:空焊的抽色参数中红色范围为(65 180,绿色范围为(0 70,蓝色范围为(0
60,亮度范围为(120 255
提示
提示提示
提示
:虚焊算法中仅空焊子算法有效
虚焊算法中仅空焊子算法有效虚焊算法中仅空焊子算法有效
虚焊算法中仅空焊子算法有效。
当虚焊发生误报时,遵循以下调试原则:
1 返回值与判定范围差异不大时调整判定范围。如返回值为 62判定范围为65 100可将判定范围
调整为(60 100
2 ROI 区域未设置合理,可调整 ROI 区域范围。
6.3.4 插件
插件插件
插件
插件,即 DIP 件,是红胶检测中检测插件有无的重要算法。它采用“Hole”算法,该算法是专门针对红
胶中的插件检测,其注册窗体如下:
上图为“Hole算法下的插件算法,说明如下:
ROI 区域:包括插件的焊盘区域,外接插件的椭圆焊盘。
检测算法区域:【检测算法】选择“Hole,其他参数见②区域。
插件的判定参数:默认判定范围为(60 255,单位为像素。
插件焊盘的抽色区域:默认抽色范围为铜箔的抽取参数,见④区域
插件的参数区域:插件的焊盘定位参数和检测算法,见⑤区域。
当插件发生误报时,遵循以下调试原则:
1 确定定位的位置是 OK,对【定位内径】进行参数调节。
2 确定检测椭圆圆环区域,对检测区域进行调节,即【检测内径】和【检测外径】
3 查看返回值,调节判定范围。
6.4. 标准注册与调
标准注册与调标准注册与调
标准注册与调
6.4.1. 电容
电容电容
电容
电容的元件注册包括主体框、缺件框、错件框和 2 个溢胶框等检测项。其元件示意图如下:
上图中,红色框为本体框、蓝色框为溢胶框、紫色框为错件框、白色框为缺件框。其注册窗体如下:
上图为电容的注册窗体,①区域包括所有的电容检测项,说明如下
元件类型
元件类型元件类型
元件类型
检测项
检测项检测
检测项 说明
说明说明
说明
本体框
本体框的作用是用于定位、偏移。其注册与调试见<炉后的基本检测项><
>中采用“Match”算法的“偏移”算法
溢胶框
锡少框的作用是用于检测焊点是否发生溢胶。其注册与调试见<红胶的基本检
测项>中“溢胶”算法。
错件框
错件框的作用是用于检测焊点是否错件、侧立、立碑、反白。其注册与调试
<炉后的基本检测项><>中采用“TOC”算法的错件”算法。
电容
缺件框
缺件框的作用是用于检测元件是否缺件。其注册与调试见<
红胶的基本检测项>
<缺件>中采用Length”算法的“缺件”算法。