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中 < 缺件 > 中采用 “ Length ”算法的“缺件 ”算法。 4.5.2. 电阻 电阻 电阻 电阻 电阻的元件注册 ，包括本 体框、错件（缺 件）框、 2 个锡 少 框和 2 个露铜框 。其元件注册示 意图如下 ： 见上图 ，红色框为 本体框，黄色 框为错件（ 缺件）框，蓝 色框为锡少 框（露铜框） ，锡少框与 露铜框、缺 件 框的位置基本一 致。其注 册窗体如下： 上图为电阻的注 册窗体， ①区域包括所有 的电阻检…
上图中，红色框为本体框、蓝色框为锡少框（露铜框）、紫色框为错件框、白色框为缺件框。其注册窗体如
下：
上图为电容的注册窗体，①区域包括所有的电容检测项，说明如下：
元件类型
元件类型元件类型
元件类型
检测项
检测项检测项
检测项 说明
说明说明
说明
本体框
本体框的作用是用于定位、偏移。其注册与调试见<炉后的基本检测项>中<偏
移>中采用“Match”算法的“偏移”算法。
锡少框
锡少框的作用是用于检测焊点是否具备锡膏。其注册与调试见<炉后的基本检
测项>中“锡少”算法。
露铜框
露铜框的作用是用于检测焊点是否发生露铜。其注册与调试见<炉后的基本检
测项>中 “露铜”算法。
错件框
错件框的作用是用于检测焊点是否错件、侧立、立碑、反白。其注册与调试见
<炉后的基本检测项>中<错件>中采用“TOC”算法的“错件”算法。
电容
缺件框 缺件框的作用是用于检测元件是否缺件。其注册与调试见<
炉后的基本检测项>
①
①①
①
中<缺件>中采用“Length”算法的“缺件”算法。
4.5.2. 电阻
电阻电阻
电阻
电阻的元件注册，包括本体框、错件（缺件）框、2 个锡少框和 2 个露铜框。其元件注册示意图如下：
见上图，红色框为本体框，黄色框为错件（缺件）框，蓝色框为锡少框（露铜框），锡少框与露铜框、缺件
框的位置基本一致。其注册窗体如下：
上图为电阻的注册窗体，①区域包括所有的电阻检测项，说明如下：
元件类型
元件类型元件类型
元件类型
检测项
检测项检测项
检测项 说明
说明说明
说明
本体框
本体框的作用是用于定位、偏移。其注册与调试见<炉后的基本检测项>中<偏
移>中采用“Match”算法的“偏移”算法。
锡少框
锡少框的作用是用于检测焊点是否具备锡膏。其注册与调试见<炉后的基本检
测项>中“锡少”算法。
电容
露铜框
露铜框的作用是用于检测焊点是否发生露铜。其注册与调试见<
炉后的基本检
测项>中 “露铜”算法。
①
①①
①
错件框
错件框的作用是用于检测焊点是否错件、侧立、立碑、反白。其注册与调试见
<炉后的基本检测项>中<错件>中采用“OCV”算法的“错件”算法。
4.5.3. 极性二脚件
极性二脚件极性二脚件
极性二脚件
极性二脚件的元件注册包括本体框、错件框、缺件框、2 个锡少框和 2 个露铜框。其元件示意图如下：
上图为极性二脚件的示意图，红色框为主体框、褐色框为错件框、白色框为缺件框、蓝色框为锡少框（露铜
框）。其注册窗体窗体如下：
上图为极性二脚件的注册窗体，①区域包括所有的极性二脚件检测项，说明如下：
元件类型
元件类型元件类型
元件类型 检测项
检测项检测项
检测项 说明
说明说明
说明
本体框
本体框的作用是用于定位、偏移。其注册与调试见<
炉后的基本检测项>中
<偏移>中采用“Match”算法的“偏移”算法。
锡少框
锡少框的作用是用于检测焊点是否具备锡膏。其注册与调试见<炉前的基本
检测项>中“锡少”算法。
极性二脚件
露铜框 露铜框的作用是用于检测焊点是否发生露铜。其注册与调试见<炉前的基本
①
①①
①