ALeaderAOI-Ver 4.0.pdf - 第131页
上图为“ Pol e ”算法下的 缺件注册窗体， 说明如下： ① ROI 框： 缺件框的大 小要比本体 大小小 2 个像素左 右。 该框的大小一 般是由④区域 中的 【自动重置大小】 获取。 ② 检测算法区域： 【检测算法 】选择为“ Pole ”算法。 其他参数见②区 域中示意。 ③ 缺件的判定区域 ：判定范围为（ 0 ， 12 ） 。 ④ Pole 参数：色彩特征选择 为【红】 + 【 绿】 + 【最大】 ；电极的亮度比 较亮， 【…
上图为“Histogram”算法下的“缺件”注册窗体，说明如下：
① ROI 区域：缺件框大小要偏离电容本体 2 个像素左右，宽度大小为整个焊盘的三分之一到三分之二之间，
高度大小要与电容本体的高度大小一致。
② 检测算法区域：【检测算法】选择“Histogram”算法，其他参数见②区域。
③ 缺件的判定区域：默认判定范围为（0， 120）。
④ Histogram 参数：【检测模式】选择“Min”，或者为“Max”；色彩模式为【红】+【绿】 + 【平均】；【比
率】为 100%。
提示
提示提示
提示：
：：
：缺件类
缺件类缺件类
缺件类“
““
“Histogram”
””
”算法下
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】必需为
必需为必需为
必需为 100%。
。。
。
当“缺件”采用“Pole”算法时，其注册窗体如下：
①
①①
①
②
②②
②
③
③③
③
④
④④
④
上图为“Pole”算法下的缺件注册窗体，说明如下：
① ROI 框：缺件框的大小要比本体大小小 2 个像素左右。该框的大小一般是由④区域中的【自动重置大小】
获取。
② 检测算法区域：【检测算法】选择为“Pole”算法。其他参数见②区域中示意。
③ 缺件的判定区域：判定范围为（0， 12）。
④ Pole 参数：色彩特征选择为【红】+【绿】+【最大】；电极的亮度比较亮，【差异阈值分割电极】为非选
择状态，否则为选择状态。其他参数见④区域。需单击【自动重置大小】来设置缺件框的大小。
当“Histogram”算法下发生“缺件”时，如下：
①
①①
①
②
②②
②
③
③③
③
④
④④
④
①
①①
①
上图为“缺件”误报，对于此类误报，选择该变缺件的判定范围，上图中选择将判定范围的【上限】增大到
120 时，则返回值 72 处于判定范围（0，120）之类，消除该类误报。
当“缺件”采用“Length”算法时，注册窗口如下：
“缺件”框大小在元件宽度
提示
提示提示
提示：
：：
：缺件不能采用派生标准
缺件不能采用派生标准缺件不能采用派生标准
缺件不能采用派生标准。
。。
。
3.3.7
3.3.73.3.7
3.3.7
短路
短路短路
短路
短路，是 IC 类（波峰焊元件之间）的一个重要检测项，它检测元件是否发生短路，或者是元件之间是
否发生连锡。它分为“投影”和“抽色”2 种。“投影”短路算法是否检测 IC 脚之间的亮度变化为检测的，
“抽色”短路算法是通过检测检测区域之间色彩的变化来检测的。以“抽色”短路算法为例，如下：
①
①①
①
②
②②
②
③
③③
③
⑤
⑤⑤
⑤