IPC-A-600H-2010 中文版 印制板的可接受性 (1).pdf - 第126页
T arget Condition - Class 1,2,3 (⽬标条件 - 1,2,3级) • No wicking of conductive material into base material or along the reinforcement material. • 没有 导电 材料 渗 入 基材或 沿 着 增 强材料 渗 入 的 芯 吸 。 Acceptable - Class 3 (可接受条件 - 3级) • Wic…

Target Condition - Class 1,2,3(⽬标条件 - 1,2,3级)
• No wicking present.
• 没有出现芯吸。
Acceptable - Class 3(可接受条件 - 3级)
• Wicking does not exceed 80 µm [3,150 µin].
• 芯吸未超过80µm[3,150µin]。
Acceptable - Class 2(可接受条件 - 2级)
• Wicking does not exceed 100 µm [3,937 µin].
• 芯吸未超过100μm[3,937μin]。
Acceptable - Class 1(可接受条件 - 1级)
• Wicking does not exceed 125 µm [4,921 µin].
• 芯吸未超过125µm[4,291µin]。
Nonconforming - Class 1,2,3(不符合条件 - 1,2,3级)
• Defects either do not meet or exceed above criteria.
• 缺陷不符合或超出上述要求。
Note: Wicking is measured from the laminate edge excluding the plating.
注: 芯吸的测量从层压板边缘量起,镀层不包括在内。
图3313a
图3313b
图3313c
3.3 PLATED-THROUGH HOLES – GENERAL(镀覆孔 – 总则)
3.3.13 Wicking(芯吸)
117IPC-A-600H-2010 2010年4月
Visual observations made on cross-sections only.(仅对显微切片进行目检观察。)

Target Condition - Class 1,2,3(⽬标条件 - 1,2,3级)
• No wicking of conductive material into base material or along the
reinforcement material.
• 没有导电材料渗入基材或沿着增强材料渗入的芯吸。
Acceptable - Class 3(可接受条件 - 3级)
• Wicking (A) does not exceed 80 µm [3,150 µin]
• Wicking (B) does not reduce conductor spacing less than speci-
fied minimum on the procurement documentation.
• 芯吸(A)未超过80µm[3,150µin]。
• 芯吸(B)没有使间距减少至低于采购文件规定的最小值。
Acceptable - Class 2(可接受条件 - 2级)
• Wicking (A) does not exceed 100 µm [3,937 µin]
• Wicking (B) does not reduce conductor spacing less than speci-
fied minimum on the procurement documentation.
• 芯吸(A)未超过100µm[3,937µin]
• 芯吸(B)没有使间距减少至低于采购文件规定的最小值。
Acceptable - Class 1(可接受条件 - 1级)
• Wicking (A) does not exceed 125 µm [4,921 µin]
• Wicking (B) does not reduce conductor spacing less than speci-
fied minimum on the procurement documentation.
• 芯吸(A)未超过125µm[4,921µin]
• 芯吸(B)没有使间距减少至低于采购文件规定的最小值。
Nonconforming - Class 1,2,3(不符合条件 - 1,2,3级)
• Defects either do not meet or exceed above criteria.
• 缺陷不符合或超出上述要求。
图33131a
A)表⾯焊盘
B)介质
C)相邻的⾮公共导体
D)表⾯镀层
A
B
D
C
图33131b
A
B
图33131c
A
B
3.3 PLATED-THROUGH HOLES – GENERAL(镀覆孔 – 总则)
3.3.13.1 Wicking, Clearance Holes(隔离孔的芯吸)
118 IPC-A-600H-20102010年4月
Visual observations made on cross-sections only.(仅对显微切片进行目检观察。)

Target Condition - Class 1,2,3(⽬标条件 - 1,2,3级)
• Direct bond of plated copper to copper foil. No evidence of inner-
layer separation (separation between internal lands and plating of
the hole wall) or innerlayer inclusions.
• 镀铜层与铜箔直接接合,不存在内层分离(内层连接盘与孔
壁镀层间的分离)或内层夹杂物。
Acceptable - Class 2,3(可接受条件 - 2,3级)
• No separation evident.
• 没有分离迹象。
Acceptable - Class 1(可接受条件 - 1级)
• Partial innerlayer separation or innerlayer inclusions on only one
side of hole wall at each land location on no more than 20% of
each available land.
• 对于每个待钻孔焊盘,在不超过焊盘20%的范围内,只在孔
壁的一侧出现内层部分分离或内层夹杂物。
Nonconforming - Class 1,2,3(不符合条件 - 1,2,3级)
• Defects either do not meet or exceed above criteria.
• 缺陷不符合或超出上述要求。
图3314a
图3314b
图3314c
3.3 PLATED-THROUGH HOLES – GENERAL(镀覆孔 – 总则)
3.3.14 Innerlayer Separation – Vertical (Axial) Microsection(内层分离 – 垂直(轴向)显微切⽚)
119IPC-A-600H-2010 2010年4月
Visual observations made on cross-sections only.(仅对显微切片进行目检观察。)