IPC-A-600H-2010 中文版 印制板的可接受性 (1).pdf - 第49页
T arget Condition - Class 1,2,3 （⽬标条件 - 1,2,3级） • Contacts are free of surface nodules, roughness, electrical test witness marks or scratches that exceed 0.8 µm [32 µin] RMS (root-mean-square) in the pristine area in acc…
Nonconforming - Class 1,2,3（不符合条件 - 1,2,3级）
• Defects either do not meet or exceed above criteria.
• 缺陷不符合或超出上述要求。
图271c
2.7 PRINTED CONTACTS（印制接触⽚）
2.7.1 Surface Plating – Plated Contacts (cont.)（表⾯镀层 – 电镀的接触⽚（续））
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Target Condition - Class 1,2,3（⽬标条件 - 1,2,3级）
• Contacts are free of surface nodules, roughness, electrical test
witness marks or scratches that exceed 0.8 µm [32 µin] RMS
(root-mean-square) in the pristine area in accordance with an
applicable test method AABUS. If IPC-TM-650, Method 2.4.15,
is used, it is recommended that the roughness-width cutoff be
adjusted to approximately 80% of the maximum length of the
wire bond pad in order to obtain the RMS value within the pristine
area. For more information on surface roughness, refer to ASME
B46.1.
• The pristine area is defined as an area bounded in the center of the
pad by 80% of the pad width and 80% of the pad length (see Fig-
ure 2711b).
• 依据供需双方协商确定的测试方法测试后，接触片在完好区
域内没有超过0.8µm[32µin]RMS（均方根值）的表面结瘤、
粗糙、电气测试痕 记 或划痕。如使用IPC-TM-650测试方法
2.4.15，为了获得完好区域内的均方根值，建议把粗糙度截
除宽度调节至约为金属线键合盘最大长度的80%。关于表面
粗糙度的更多信息请参考ASME B46.1。
• 完好区域的定义是以引线键合盘中心为基准，引线键合盘长
度的80%和宽度的80%范围内的区域（见图2711b）。
图2711a
图2711b 完好区域
2.7 PRINTED CONTACTS（印制接触⽚）
2.7.1.1 Surface Plating – Wire Bond Pads（表⾯镀层 – ⾦属线键合盘）
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Nonconforming - Class 1,2,3（不符合条件 - 1,2,3级）
• Defects either do not meet or exceed above criteria.
• 缺陷不符合或超出上述要求。
图2711c
图2711d
图2711e
2.7 PRINTED CONTACTS（印制接触⽚）
2.7.1.1 Surface Plating – Wire Bond Pads (cont.)（表⾯镀层 – ⾦属线键合盘（续））
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