KE-3010_20V_使用说明书.pdf - 第1126页
第2部 功能 详解编 第1 3章 选项 组件 13-95 13-15-1-4 关于执行测量时的各项运行 1) 吸取时使用的 Head 可以 6 个轴同时测量。 吸取时使用的 Head 可自动选择。 2) 检查后放回元件 检查后的元件，有的放回原来的位置，有的废弃。处理情况因包装而异，请参见下表。 废弃的地方，按元件数据的 “ 元件废弃 ” 所设置的内容进行处理。 1mm 以下的元件，因有元件站立、翻转等可能性，请在显示询问框后，从对话框…
第2部 功能详解编 第13章 选项组件
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13-15 CVS（元件验证系统）
13-15-1 概要
元件验证系统是在生产前检查即将贴片的元件，目的在于事先发现：
·元件错误
·极性错误
·供料器安装位置错误
等问题。
13-15-1-1 对象元件
检查的对象元件如下。
对应元件类型 检查条件
・
方形芯片
・
叠层陶瓷电容
・
钽芯片电容
・
铝电解电容
・
芯片膜电容
・
2 针脚二极管
・
电极有两极，在底面且在对边的元件
・
电极间距离为 10mm 以下的元件
・
对角尺寸为□10.00mm 以下的元件
・
单独测量时，为小元件 0402 以上
・
同时测量时，为小元件 1005 以上
(但，元件尺寸的长边为 0.95mm 以上的)
※由于吸取偏差，未能吸取元件中心时，有时会变为单独测量。
※二极管仅限一般整流用二极管（发光二极管及稳压二极管除外。）
13-15-1-2 检查项目
检查项目如下：
1） 电阻值
测量范围：10Ω～1MΩ 测量精度：±5%
注
1
2） 静电容量
测量范围：100pF～100μF 测量精度：±20%
注
1
3）二极管极性
测量范围：正向电压1.8V以下 开路电压0～4.3V
注 1：测量精度，对于对象元件的允许误差存在测量误差，需要考虑这个因素后，输入制作程序
（13-15-2-3 章 元件数据编辑）的上限、下限值。
（例）：电阻值误差为±5％的方形芯片，上限值要输入10、下限值要输入(-)10。
13-15-1-3 验证检查功能
验证检查有“连续检查”和“单独检查”两种模式。 以下说明各个模式的功能。
工具菜单 运行模式 运行内容
验证单独检查 单独检查 对在连续检查模式中发现错误的元件进行个别检
查。
验证连续检查 连续检查 对生产程序数据内的全部元件／条件一致的元件
进行检查，最多同时检查 6 个元件。
因某种原因检查失败的元件，可用单独模式进行
个别检查。
注意
吸取位置、供给方向等有错误时，有时不能检查得正确。
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13-15-1-4 关于执行测量时的各项运行
1) 吸取时使用的 Head
可以 6 个轴同时测量。
吸取时使用的 Head 可自动选择。
2) 检查后放回元件
检查后的元件，有的放回原来的位置，有的废弃。处理情况因包装而异，请参见下表。
废弃的地方，按元件数据的“元件废弃”所设置的内容进行处理。
1mm 以下的元件，因有元件站立、翻转等可能性，请在显示询问框后，从对话框中选择动作。
·放回元件／废弃元件
包装 条件 放回 废弃
外形尺寸短边 1mm 以下 询问 ﹡1、﹡3
带式／散件
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○﹡2、﹡3
·﹡1 显示对话框时请选择是放回元件、还是废弃。连续测量时会在开始前显示对话框。
·﹡2 废弃方法为“IC 回收带”“元件保护”时，进行废弃。
·﹡3 32mm 纸粘着带式供料器时为废弃。
3) 选择吸取的供给装置
同一元件有多个供给装置（吸取数据）时，默认值为按照孔编号顺序吸取元件。
只有单独检查时，可根据要求更换装置。
4) 更改吸取坐标
吸取状况不理想时，可用手动示教坐标，更改吸取坐标。
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5) 验证连续检查步骤
① 对象元件的吸取(按顺序吸取)
② 使用激光校正位置
③ 判断可否同时测量
④ 移动到 CVS 单元上的测量位置
⑤ 测量电阻值、电容量、极性
不能同时测量时，反复进行步骤(4)、(5)
⑥ 元件废弃、返回
⑦ 判断是否合格
按对象元件顺序吸取
使用激光校
正
位
置
判断
可否
同时测
量
向 CVS
单
元上的
测
量
位
置
移动
完成全部元件？
判断是否合格
结束
测
量
元件废弃
、返
回