KE-3010_20V_使用说明书.pdf - 第283页
第 1 部 基本編 第 2 章 生产 2-150 （ 3 ）选择吸取的供应装置 当同一元件有多个供应装置 ( 吸取数据 ) 时，初始值为从最初输入的数据开始吸取元件。 也可根据需要改变供应装置。 （ 4 ）修改吸取坐标 无法顺利吸取时，可通过手动输入或使用示教功能，修改吸取坐标。 2-12-6-3 连续检查激光高度 （ 1 ）对象元件 只检查元件数据中某种条件与之一致的元件时，进行此项设定。 1) 全元件 检查所有的元件数据。 2) 仅…
第 1 部 基本編 第 2 章 生产
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2-12-6 激光高度检查
2-12-6-1 概要
从下拉菜单的[生产辅助]选择[激光高度检查]，进行操作。
根据生产程序的元件数据中设定的激光高度值进行激光定心的一系列控制，检查防止错误措施是否落
实。另外，在单独检查模式中可以通过单独测量来指定并执行对任意或测量后的激光高度值进行检查。
激光高度检查有「连续激光高度检查」、「单独激光高度检查」、「单独测量激光高度」3 个功能。
下拉菜单 功能(画面) 功能内容
激光高度检查 连续检查激光高度 检查生产程序数据内的所有元件/条件一致的元件。
对因某种原因检查出错的元件，可个别进行激光高
度单独检查。
单独检查激光高度 对在连续激光高度检查中出现错误的元件进行单独
检查。也可指定并检查任意或测量后的激光高度值。
单独测量激光高度 在单独激光高度检查中不能识别元件时，测量激光
高度。
2-12-6-2 各种动作
（1）吸取时使用的Head
吸取Head为自动选择。为减少吸嘴的更换次数，优先使用已经安装好的吸嘴。根据吸嘴的安
装状况，每次检测时，Head可能不同。
（2）检查后的元件归还/废弃条件
检查后的元件，将被放回原来的位置或被废弃。如下表所示，根据包装而有所不同。
废弃场所根据元件数据中的“元件废弃”设定进行废弃。由于1mm以下的元件在归还时可能出现
元件站立、翻倒等情况，因此请根据询问选择具体的处理。
但，不能手动吸取。
包装 条件 1 条件 2 归还 废弃
32mm 纸粘着供料器
－
○
外形尺寸短边 1mm 以下
询问
*1
带状
32mm 纸粘着供料器
以外
外形尺寸短边 1mm 以上
○
○ *2
外形尺寸短边 1mm 以下
询问
*1
散装
－
外形尺寸短边 1mm 以上
○
○ *2
托架
○
○ *2
MTC
○
○ *2
MTS
○
○ *2
管式
－
○ *2
*1 显示画面，选择归还元件，还是废弃元件。连续测量时，会在开始前进行询问。
*2 废弃方法为“IC回收传送带”“元件保护”时，进行废弃。
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（3）选择吸取的供应装置
当同一元件有多个供应装置(吸取数据)时，初始值为从最初输入的数据开始吸取元件。
也可根据需要改变供应装置。
（4）修改吸取坐标
无法顺利吸取时，可通过手动输入或使用示教功能，修改吸取坐标。
2-12-6-3 连续检查激光高度
（1）对象元件
只检查元件数据中某种条件与之一致的元件时，进行此项设定。
1) 全元件
检查所有的元件数据。
2) 仅限薄元件
仅对元件高度在编辑框内的设定值以下的元件进行检查。
3) 仅限指定的元件类型
仅检查组合框里选择的元件类型。
4) 仅限指定的吸嘴的元件
仅对使用组合框里选择吸嘴的元件进行检查。
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（2）检查范围
在对象元件条件基础上,要针对特定的元件编号进行检查时,请加以勾选。
勾选标记时，即可指定以下的内容。
1) 开始元件号
指定开始检查的元件数据的编号。
2) 结束元件号
指定结束检查的元件数据的编号。
3) 只限贴片元件
当限定为贴片数据中指定的元件数据时，请加以勾选。
（3）设置元件归还
对检查的元件进行检查后，会显示选择如何处理的画面。
1) 每次归还
元件归还到原来的位置。
2) 每次废弃
按[元件废弃]的设置进行废弃。
3) 每次询问
每次测量结束后进行询问。
（4）连续测量（或按<START>开关）
执行指定的检查范围的检查。
●执行指定范围的检查直到最后一个元件，反复进行，然后返回条件设置画面。
●检查中检出错误时，可进行激光高度单独检查。
注意
按下“连续测量”按钮后，Head 会立即移动，开始检查。
为避免人身伤害，在运行过程中切勿将手放入装置内部，也不要将脸和头靠
近装置。
在按下“连续测量”按钮前，请务必确认装置内部无人作业。
在按下“连续测量”按钮前，请确认装置附近没有会受到人身伤害的人。
在按下“连续测量”按钮前，请确认装置内部没有安装、安放会妨碍装置运行
的物体(调整工具等)。
（5）返回
返回原来的画面。