KE-3010_20V_使用说明书.pdf - 第617页

第 1 部 基本编 第 4 章 制作生产程序 编号 元件类型 定中心 方式 测量项目 元件尺寸 吸取真空 压力 激光 高度 引脚 信息 CDS 高度 纵横 高度 12 TSOP2 激光 △ ○ ○ ○ 图像 ○ *1 ○ ○ ○ *1 ○ 13 BGA 激光 ○ ○ ○ 图像 ○ ○ ○ 14 网络电阻 激光 ○ ○ ○ 15 微调电容器 激光 ○ ○ ○ 16 单向引脚连接器 激光 ○ ○ ○ ○ *2 图像 ○ ○ ○ *1, *2…

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1 基本编 4 制作生产程序
3)
元件真空压力测量功能
测量吸取元件时的真空压力。测量方式如下所示。
对象元件
方式
激光识别元件
图像识别元件
吸取元件,获得
Head
真空压力级别。
将获得的值作为
Head
真空级别。
4)
引脚信息测量功能
利用图像识别装置测量引脚信息。仅限于图像定中心的元件进行测量。测量方法如下。
对象元件
方式
图像识别元件
①利用图像识别装置识别元件获取引脚信息。
②将获得的值作为引脚尺寸。
5) CDS
高度测量功能
(
KE-3020V)
用激光测量 CDS 高度。测量方法如下所示。
对象元件
方式
图像识别元件
上下移动元件。
②将元件的阴影部分范围作为高度尺寸。
(2)
元件类型本身的测量项目限制
因元件数据的元件类型不同,测量项目会受到下列限制。
编号
元件类型
定中心
方式
测量项目
元件尺寸
吸取真空
压力
激光
高度
引脚
信息
CDS
高度
纵横
高度
方形芯片
激光
圆筒形芯片
激光
铝电解电容
激光
图像
GaAsFET
激光
图像
SOT
激光
SOP
激光
图像
*1
*1
SOJ
激光
图像
QFP
激光
图像
*1
*1
PLCC(QFJ)
激光
图像
10
PQFP(BQFP)
激光
图像
*1
*1
11
TSOP
激光
图像
*1
*1
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1 基本编 4 制作生产程序
编号
元件类型
定中心
方式
测量项目
元件尺寸
吸取真空
压力
激光
高度
引脚
信息
CDS
高度
纵横
高度
12
TSOP2
激光
图像
*1
*1
13
BGA
激光
图像
14
网络电阻
激光
15
微调电容器
激光
16 单向引脚连接器
激光
*2
图像
*1, *2
17 J 引脚插座
激光
图像
18 鸥翼形插座
激光
图像
19 带减震器的插座
激光
图像
20
其他元件
激光
21 双向引脚连接器
激光
*2
图像
*1
*1, *2
22 带散热器 SOP
激光
图像
*1
23
FBGA
图像
24 Z 引脚连接器
激光
图像
25
扩展引脚连接器
图像
26
通用图像元件
图像
27
方形芯片(
LED
激光
28
QFN
激光
29
外形识别元件
图像
○:可以测量。
△:可将定中心方式设定为图像后获得的测量结果加以利用。
*1 引脚根数仅限于每 1 列引脚在 7 根以上的元件。(SOP 14Pin 为可测量)
*2 由相同引脚形状构成,且引脚两端没有臂、金属零件的元件
引脚信息,取决于被测量元件的引脚条件,有时可能无法测量
测量功能的对象限于元件外形尺寸□33.5mm以下的元件。
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1 基本编 4 制作生产程序
(3)
关于进行测量时的各项运行
1)
用于吸取的
Head
可自动选择用于吸取的Head。使用Head时,优先使用已安装的吸嘴,以减少吸嘴的更换次
数。
根据吸嘴的Head安装情况,每次测量时,吸取的Head可能不同。
2)
测量后归还元件
按照设置,测量后的元件将被归还原来的位置或被废弃。具体因包装方式而异(如下表所
示)。
废弃时,根据元件数据中元件废弃的设置,废弃到指定的地方。
1mm以下的元件,归还时可能出现元件直立或翻倒,请根据询问选择运行。
包装方式
条件
1
条件
2
归还
废弃
带状
32mm 纸粘着供料器
32mm
纸粘着供料器
以外
外形尺寸短边
1mm
以下
确认*1
外形尺寸短边
1mm
以上
○*2
散装
外形尺寸短边
1mm
以下
确认*1
外形尺寸短边
1mm
以上
○*2
托架
*2
MTC
*2
MTS
*2
管状
*1 显示提示信息,选择是将元件归还还是废弃。连续测量时,在开始前询问。
*2 当废弃方法为“IC 回收带”“元件保护将按设定进行处理。
3)
选择用于吸取的供给装置
如果同一元件有多个供给装置(吸取数据),初始值为从最初输入的数据开始吸取元件
单独测量时可根据需要改变供给装置。
4)
改变吸取坐标
无法顺利吸取时,可用手动输入或进行坐标示教,改变吸取坐标。
5)
手动吸取
当没有吸取数据时,可用手动将元件安装到吸嘴上。但在这种情况下,不能输入吸取坐标。
也不能操作供料器。
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