TR7700_SII_Software_ch_v4-6.pdf - 第360页
Test Research Inc. 346 TR 7700 S II User Guid e – Softwar e
Test Research Inc.
TR7700 SII User Guide–Software 345
PN必需先建 pin 腳
B必需先建 body
4.9.7.10 儲存目前的修改狀態到
若使用模組化資料庫建立的檔案，可以在修改參數後，按下本按鈕可將參數回存至模
組化資料庫中，作為預設值。
4.9.7.11 套用 IPC 規範
可以將 Library 設成三種等級，依不同需求規範使用。
4.9.7.12 Offline ATPG Editor
遠端編輯系統相關功能，詳細用法請參閱 9.3.3 新版遠端編輯系統流程。
4.9.7.13 轉檔自動產生腳位
此為客製化功能，一般使用者不須使用。
4.9.8 設定
4.9.8.1 邏輯設定
可以使用此視窗建立同一元件上不同檢測框之間的邏輯關係。
Test Research Inc.
346 TR7700 SII User Guide–Software
Test Research Inc.
TR7700 SII User Guide–Software 347
邏輯設定視窗：
瑕疵：輸入瑕疵名稱，可以針對此缺陷的特性命名。
運算子：邏輯運算子的下拉選單，有三個可選擇，分別為[&(AND)]、[|(OR)]以及
[^(XOR)]。
&(AND)：當所有以此邏輯連接起來的檢測框全部都通過時，這個瑕疵的檢查才
算通過。
|(OR)：以此邏輯連接起來的檢測框中只要有一個通過，這個瑕疵的檢查就算通
過。
^(XOR)：若兩個以此邏輯連接起來的檢測框檢測結果不相同(一個過一個沒過)則
此瑕疵的檢查才算通過；若結果相同(都通過或都不通過)，則此瑕疵的檢查就不
能通過。
邏輯：選定瑕疵名稱時，此欄位會顯示此瑕疵所設定邏輯的方程式。在建立新邏輯
時可在下方列表視窗中點選目標運算式兩下，即可將此運算式設定至[邏輯]欄位中，
如下圖所示。