TR7700_SII_Software_ch_v4-6.pdf - 第455页
Test Research Inc. TR 7700 S II User Guid e – Softwar e 441 使用方法：首先點選一個元件類型，然後將萬用框移至該元件欲增加檢測框的位 置 。 選 擇 [ 新 增 檢 測 框 ] 後， 會 出 現 以 下 視 窗 。 選 擇 一 個 想 要 增 加 的 檢 測框 類 型 後 ， 按下 [ 確定 ] ，則在萬用框所在位置會增加一個新的檢測框。 備註 : Model Image 為 M…
Test Research Inc.
440 TR7700 SII User Guide–Software
1. 白平衡：以白平衡方式顯示 FOV 影像。
2. 設定萬用框角度：旋轉萬用框的角度。點選後，會出現以下視窗。輸入想要的角
度後按下確認鍵即可完成設定。
3. 萬用框置中：點選後會使萬用框移動至 FOV 影像的正中間，方便使用者點選使用。
4. 拷貝檢測框：複製目前所選擇的檢測框。
5. 剪下檢測框：剪下目前選擇的檢測框。
6. 貼上檢測框：在萬用框所在的位置，貼上先前拷貝或是剪下的檢測框。
使用方法：首先選擇所要的檢測框並按下[拷貝檢測框]或[剪下檢測框]，接著在目
標 FOV 上按下[貼上檢測框]，此時還不會出現檢測框，需將滑鼠移動到正確位置
再按下滑鼠左鍵，會出以下對話窗，輸入此顆元件資訊後，按下[確定]即可。在
新增元件附近 2mm 的範圍內若有其它的元件，則無法貼上檢測框。
7. 新增檢測框：增加一個新的檢測框。
Test Research Inc.
TR7700 SII User Guide–Software 441
使用方法：首先點選一個元件類型，然後將萬用框移至該元件欲增加檢測框的位
置。選擇[新增檢測框]後，會出現以下視窗。選擇一個想要增加的檢測框類型後，
按下[確定]，則在萬用框所在位置會增加一個新的檢測框。
備註: Model Image 為 Missing 框。
8. 刪除檢測框：刪除所選擇的檢測框。
9. 復原刪除檢測框：復原上一個刪除的檢測框。
10. 設定遮罩：對於選取的[Void]框或[Extra Blob]框設定遮罩。設定遮罩的區域將不
被檢測，有設定遮罩的檢測框，其四角落會以小圓圈加以標示如下圖所示。關於
遮罩的設定請參見 4.9.8.2。
Test Research Inc.
442 TR7700 SII User Guide–Software
11. 移動到左邊 FOV ：將所選擇的檢測框移動到左邊 FOV 內檢測。
12. 移動到右邊 FOV ：將所選擇的檢測框移動到右邊 FOV 內檢測。
13. 移動所有檢測框：一次移動在同一張 FOV 中所有的檢測框。點選後會出以下對話
方塊，可輸入欲移動的畫素數，正 X 代表向右移，正 Y 代表向下移，接著按下
[OK]按鈕即可。若有一檢測框移動後會超出該檢測框所在的 FOV 位置或在 FOV
影像邊緣 8 畫素內，則該檢測框不會移動。
14. 複製檢測框大小和位置：將目前選擇檢測框的位置或大小套用到其他同類型的元
件。
15. 旋轉檢測框的方向性：每點選一次可以將檢測框的方向性旋轉 90 度(須配合功能
表區的顯示方向性一起使用)。
16. 改變形狀：將選擇的[Void]或[Solder]框改變形狀，可由矩形改變為圓形或由圓形
改變為矩形。
17. 傳送 BMP 到維修站：可將選定的[Missing]框的代料影像以 BMP 的形式傳至維修
站。目的是對於小顆的元件，在維修站將影像放大檢查時，影像品質較佳。
18. ICT 強化測試：可與 ICP 連動，告知在 ICT 時所選擇的檢測框元件須檢測。
19. 複製代料資料：當一個帶有影像的框未被教導時，使用本功能可將相同類型元件
的代用料影像套入選擇的檢測框中。
20. 設定距離：提供點對點、點對線、線對線和 Light Bar 平整度的量測。詳細設定請
參閱 4.9.8.10。
21. 連結檢測框：選擇有從屬關係的檢測框後，按下此按鈕可將檢測框建立連結關係。
有關連結請參考 4.9.3.9。
22. 取消連結檢測框：選擇有從屬關係的檢測框後，按下此按鈕可終止檢測框之連結
關係。有關終止連結請參考 4.9.3.10。
23. 邏輯設定：出現邏輯設定視窗，可在此設定元件的檢測方法。邏輯的設定詳見
4.9.8.1。
24. 檢視邏輯：檢視本專案內所有設定的邏輯，且可以在此選擇邏輯將之刪除。