TR7700_SII_Software_ch_v4-6.pdf - 第367页
Test Research Inc. TR 7700 S II User Guid e – Softwar e 353 (pin- 1) ：表示選擇的檢測框檢測的 IC 腳的號碼，若為 -1 表示此檢測框不檢測任何 IC 腳。 元件型式 ：顯示元件的封裝形式。 名稱 ：顯示選擇的檢測框名稱。 角度 ：顯示此元件的角度。若本顆元件角度錯誤可在此直接修正。 X ：顯示檢測框中心點所在的 X 方向座標位置，以元件本體框中心…
Test Research Inc.
352 TR7700 SII User Guide–Software
刪除群組：刪除在視窗列表中選擇欲的項目。
刪除瑕疵：選擇瑕疵名稱後，點選[刪除瑕疵]，系統會出現確認視窗，選擇[是]，就
可以將它刪除；選擇[否]，則不會進行刪除的動作。
新增瑕疵：在下方列表視窗中欲設定的邏輯方程式上按滑鼠左鍵兩下，可將方程式
列在[邏輯]視窗中，接著在[瑕疵]中輸入欲給予的瑕疵名稱，再按下[新增瑕疵]，會
出現確認視窗。選擇[是]，即完成設定新瑕疵；選擇[否]，則不會設定新瑕疵。
若設定邏輯的檢測框是位於 IC 腳上的檢測框，則系統會詢問是否要將邏輯複製
到其他 IC 腳上相對應的檢測框上，若有需要請按[是]，系統將會出現視窗告知複
製了多少個邏輯，請按[確定]。
改變瑕疵：可以改變瑕疵的邏輯或名稱。選取一瑕疵並編輯欲修改的部分(瑕疵名稱
或邏輯方程式)，接著按下[改變瑕疵]會出現確認視窗，確認後按下[是]即可改變瑕
疵的設定；若按[否]則不會進行改變的動作。
檢視：按下[檢視]按鈕可以把[邏輯]文字方塊中有關的檢測框在圖上用紅色顯示出來。
4.9.8.2 屬性
在此可以設定檢測框屬性的參數，屬性設定說明如下：
Test Research Inc.
TR7700 SII User Guide–Software 353
(pin-1)：表示選擇的檢測框檢測的 IC 腳的號碼，若為-1 表示此檢測框不檢測任何
IC 腳。
元件型式：顯示元件的封裝形式。
名稱：顯示選擇的檢測框名稱。
角度：顯示此元件的角度。若本顆元件角度錯誤可在此直接修正。
X：顯示檢測框中心點所在的 X 方向座標位置，以元件本體框中心位置為原點，向
右為正。
Y：顯示檢測框中心點所在的 Y 方向座標位置，以元件本體框中心位置為原點，向
上為正。
DX：顯示檢測框水平方向的長度，單位為 um。
DY：顯示檢測框垂直方向的長度，單位為 um。
Test Research Inc.
354 TR7700 SII User Guide–Software
RGB：顯示所點選檢測框的權重。但對於 Missing 及 Lead 框，其影像的權重無法在
此顯示，需進入權重設定視窗查看。
測試：下拉式選單選擇檢測框是否要測試。
攝影機：選擇檢測框所要用來取像的攝影機。
光源：選擇檢測框要使用的光源。
方法：選擇檢測框的檢測方法。
錯誤結果：可以在製作 Library 時即針對檢測框選定[錯誤結果(Fail Result)]字串值。
例如放在電阻類型元件本體上方來測定元件是否翻面的[Void]框，就可以將其錯誤
結果設定為[Upside Down]，則若本檢測框檢測後結果為不良，傳出的錯誤結果就是
[Upside Dow]而不會是[Void]框預設的[VoidFail]。若無設定則系統會以預設的定義
為檢測結果。
Inverse：設定為[True]表示將本檢測框的[逆邏輯]功能開啟。被設定逆邏輯的檢測
框檢測後，若其結果為通過比對條件則系統會顯示 Fail，而未通過比對條件者系統
會顯示[Pass]。
搜尋範圍：勾選後可設定 Missing 框或 Lead 框的搜尋範圍。若有在此設定則會在
後方 X 及 Y 欄位顯示搜尋範圍大小(單位為 um)，此欄位只能顯示而不能輸入。若
沒有設定則在 X 及 Y 欄位中顯示 0，且在轉入主程式後系統會以預設值自動設定搜
尋範圍。設定搜尋範圍的方式如下：
Step1. 打開屬性視窗並勾選[搜尋範圍]，在影像編輯視窗上會出現紫紅色粗實線方
框，而現今元件的搜尋範圍將以淡粉紅色系線框表示，如下圖所示。
Step2. 點選欲設定搜尋範圍的檢測框，並調整紫紅色功能方塊的大小，使之合乎欲
設定的搜尋範圍大小。注意，搜尋範圍不可比檢測框還小。