TR7700_SII_Software_ch_v4-6.pdf - 第402页
Test Research Inc. 388 TR 7700 S II User Guid e – Softwar e Shift Y ：待測元件之 Y 方向位移的容許值。 Skew Difference ：相鄰兩個 [Lead] 框之間的高低差的容許值 Shift Mode ：以圓的方式來檢測並作為檢測方式的基準。當勾選此功能後，參數設 定的 Shift X 與 Shift Y 會變成僅有 Shift R ，如下圖所示。其…
Test Research Inc.
TR7700 SII User Guide–Software 387
4.10.2.2 Lead
用來檢查 IC 腳之缺件、偏移、腳彎。採用方法二之影像比對方式，擷取一個好的 IC
腳影像當樣本，再將待測元件與之比對。
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
Similarity：待測影像與標準影像之相似度容許值。
Shift X：待測元件之 X 方向位移的容許值。
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388 TR7700 SII User Guide–Software
Shift Y：待測元件之 Y 方向位移的容許值。
Skew Difference：相鄰兩個[Lead]框之間的高低差的容許值
Shift Mode：以圓的方式來檢測並作為檢測方式的基準。當勾選此功能後，參數設
定的 Shift X 與 Shift Y 會變成僅有 Shift R，如下圖所示。其表示檢測方式以檢測框
中心位置的偏移量取代 X 及 Y 方向的偏移量。Shift R 的數值標示檢測框中心位置偏
移量的容許值。
4.10.2.3 Void
此檢測框是用來檢查元件的空焊、缺件、極性。利用灰階值(0-255)來設定門檻值及所
佔比例來判斷是否通過檢測，且可以針對不同的情況使用測亮或測暗的檢測方式。
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TR7700 SII User Guide–Software 389
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
B/W Threshold：設定區分暗與亮的門檻值。舉例來說，若設定值為 120，代表
檢測框內，灰階值落於 0 到 119 之間的區域皆判定為暗，而落於 120 到 255 之
間的區域皆判定為亮。
Bright Ratio：設定在檢測框中，亮的區域在所有區域占有比例的容許值。
測試方法：選擇檢測的方式為測亮或者測暗。測亮與測暗的定義如下：