TR7700_SII_Software_ch_v4-6.pdf - 第405页
Test Research Inc. TR 7700 S II User Guid e – Softwar e 391 門檻值 (B/W Threshold) – 設定區分暗與亮的 門檻值。請參閱 [Void] 框同名稱的解釋。 Bright Ratio – 設定在檢測框中，亮的區域在所有區域占有比例的容許值。 備註：此檢測框主要用在 Top Camera 下，其功能已逐漸被 Void 框取代。 4.10.2.5 Pin 此檢測…
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Bright (測亮)：若檢測框中亮的區域在所有區域中占有比例小於設定值時，判定
為 Pass；反之，若超過設定值時，則判定為 Fail。
Dark (測暗)：若檢測框中亮的區域在所有區域中占有比例小於設定值時，判定為
Fail；反之，若超過設定值時，則判定為 Pass。
4.10.2.4 Lead void
用來檢查 IC 腳的空焊、翹腳。利用灰階值(0-255)來設定門檻值及所佔比例來判斷是
否通過檢測，與 Void 之檢測原理相同。唯一的差異在於當進行 train 時，軟體會先忽
略亮的區域而不列入檢測範圍計算。因此，就算相同尺寸之檢測框在計算時每個檢測
框之分母仍將會有所差異。
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
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TR7700 SII User Guide–Software 391
門檻值(B/W Threshold) –設定區分暗與亮的門檻值。請參閱[Void]框同名稱的解釋。
Bright Ratio –設定在檢測框中，亮的區域在所有區域占有比例的容許值。
備註：此檢測框主要用在 Top Camera 下，其功能已逐漸被 Void 框取代。
4.10.2.5 Pin
此檢測框是用來檢查元件的偏移、錫多、錫少。利用灰階值(0-255)來設定門檻值及所
佔比例來判斷是否通過檢測。程式製作時需先學習(Train)檢測框中亮的區域大小，再
根據設定之參數來決定可容許之亮暗比例。
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[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
B/W Threshold：設定區分暗與亮的門檻值。
High Ratio：檢測框中亮的區域面積與學習而得的亮區面積的最大比例容許值。
Low Ratio：檢測框中亮的區域面積與學習而得的亮區面積的最小比例容許值。