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Test Research Inc. 446 TR 7700 S II User Guid e – Softwar e 27. 回傳元件庫 ：可選擇將選擇的檢測框的 [ 比對條件屬性 ] 、 [ 搜尋範圍 ] 、 [ 權重 ] 、 [ 測 試標記 ] 、 [ 逆邏輯 ] 、 [ 代料 ] 、 [ 大小及位置 ] 與 [ 錯誤字串 ] 回傳至元件資料庫 (Library) 。同時僅可點選一個元件所含的檢測框。 [ 測試標記 ] 為本檢測框…
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然後按下往前往後尋找的按鈕來搜尋板程式中有製作廢板標示點的地方。
Step9. 若有需要可將報廢標示設定逆邏輯，即找到標示點時這個板子判定為[Skip]。
設定方式為在報廢板標示檢測框上按右鍵，選擇[逆邏輯(Inverse Logic)]。
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27. 回傳元件庫：可選擇將選擇的檢測框的[比對條件屬性]、[搜尋範圍]、[權重]、[測
試標記]、[逆邏輯]、[代料]、[大小及位置]與[錯誤字串]回傳至元件資料庫
(Library)。同時僅可點選一個元件所含的檢測框。[測試標記]為本檢測框測試或
不測試的設定；[大小及位置]只有與其它檢測框連結的子檢測框可以選擇本選項，
表示回傳其大小及其與母檢測框的相對位置。
28. 顯示檢測資料統計圖表：會顯示最近 30 筆收集的資料。使用此功能前須先開啟
[程式]>[自動比對條件>[線上資料收集]功能。可按住原點圖示來顯示該次檢測結
果，或點選黃線直接上下移動來更改比對條件。
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勾選[For This Box]表示只繪出所點選該顆元件的檢測結果。
點選[Mode2]按鈕，可以以第二種圖形表示檢測結果。橫軸為分數，縱軸為
次數，圖形顯示了檢測結果為該分數的檢測次數。在本圖中亦可以拖曳黃線
直接更改比對條件。