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Test Research Inc. TR 7700 S II User Guid e – Softwar e 489 6.1.2 FOV 影像區域顯示錯誤元件的 FOV 影像。使用者可以在功能表中選擇要顯示的元件，在此進行檢視。 6.1.3 結果顯示區域 1. 顯示目前檢測結果為 [PASS] 或 [FAIL] ，若點選 [ 顯示檢測 ] ，則此區域會顯示 [Test] 圖樣。統計結果 (Yield Statistic) ：將電…

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6.1.1 缺陷位置圖

 在本圖上按滑鼠左鍵一次，會顯示出兩倍大的圖。

 會將目前所在缺點位置標示出來，並列出其缺點項目。若使用者設定檢測模式為[自

動確認模式(Auto Confirm Mode)]，此大圖會以兩倍的大小顯示。

 若欲開啟已被關閉的缺點位置圖，可在鍵盤上鍵入[map] +[Enter 鍵]，即可再將此

圖叫出。

 在此圖上按滑鼠右鍵會出現以下選項，其功能說明如下：

 尋找元件：點選此按鈕，可指定在大圖上標示所選擇的特定元件。

 顯示缺點位置圖：勾選表示下次檢測時要出現本缺點位置圖，不勾表示下次檢測

開始不顯示。

 依 FOV 來顯示瑕疵：不勾選表示在圖上標出所有的缺點位置，勾選表示僅標示出

在結果視窗中點選的元件位置。

 最上層顯示：勾選表示從下次檢測開始，本缺點位置圖會顯示在最上層。

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TR7700 SII User Guide–Software 489

6.1.2 FOV 影像區域

顯示錯誤元件的 FOV 影像。使用者可以在功能表中選擇要顯示的元件，在此進行檢視。

6.1.3 結果顯示區域

1. 顯示目前檢測結果為[PASS]或[FAIL]，若點選[顯示檢測]，則此區域會顯示[Test]

圖樣。

統計結果(Yield Statistic)：將電路板檢測結果統計列表，可選擇[By Panel]表示以大板

子數量統計，[By Board]表示以多連板的小板子作統計，[By Component]表示以元件

數量作統計。

 電路板總數(Total Test Board Count)：檢測過的電路板總數，以單板計。

 正常板數量(PASS Board Count)：測試結果為通過的電路板數。

 瑕疵板數量(FAIL Board Count)：測試結果為瑕疵板的電路板數。

 檢測錯誤數量(Fail-to Confirm-PASS Board Count)：測試結果為錯誤但經由人工

判斷為通過的板子數目。

 警告設定(Alarm Setting)：可依[By Panel]，[By Board]，[By Component]的不良

率超過多少後會警報。[Alarm after test count]表示測試多少片後開始本警報功能。

警報時會顯示以下畫面。

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 Repair mode：勾選表示與維修站連結，顯示維修站經確認後回傳的統計結果。

使用此功能維修站須配合將[Setting/Other/SPCOutPut]選項設定為[True]。若要

顯示 DPMO 欄位，須在維修站端以[Window]模式 Confirm 資料。

 PPY Yield：(檢測為正常板數量+誤判的板數)/電路板總數*100%

 PPY DPPM：[(確認為不良的元件數+誤判的元件數)/元件總數]*1000000

 PPY DPMO：[(確認為不良的檢測框數+誤判的檢測框數)/(電路板總數*板子上

總檢測框數)]*1000000