TR7700_SII_Software_ch_v4-6.pdf - 第366页
Test Research Inc. 352 TR 7700 S II User Guid e – Softwar e 刪除群組 ：刪除在視窗列表中選擇欲的項目。 刪除瑕疵 ：選擇瑕疵名稱後，點選 [ 刪除瑕疵 ] ，系統會出現確認視窗，選擇 [ 是 ] ，就 可以將它刪除；選擇 [ 否 ] ，則不會進行刪除的動作。 新增瑕疵 ：在下方列表視窗中欲設定的邏輯方程式上按滑鼠左鍵兩下，可將方程式 列在 [ 邏輯 ] 視窗中，接著…
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TR7700 SII User Guide–Software 351
[群組/項目]中勾選視窗：使用此功能可以直接將視窗影像中的檢測框直接設定邏
輯並產生於視窗列表中。使用方法如下圖所示：(1)在影像圖中選取要設定連結
的檢測框(2) 選擇想要的邏輯方式(3)勾選[視窗](4)點選[群組]按鈕(5)系統會把邏
輯方式產生在視窗列表中。
以多個群組建立更複雜的邏輯的方式為，選取視窗列表中兩個已設好的邏輯方式，
勾選群組後，再按下[群組]按鈕即可，如下圖所示。
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352 TR7700 SII User Guide–Software
刪除群組：刪除在視窗列表中選擇欲的項目。
刪除瑕疵：選擇瑕疵名稱後，點選[刪除瑕疵]，系統會出現確認視窗，選擇[是]，就
可以將它刪除；選擇[否]，則不會進行刪除的動作。
新增瑕疵：在下方列表視窗中欲設定的邏輯方程式上按滑鼠左鍵兩下，可將方程式
列在[邏輯]視窗中，接著在[瑕疵]中輸入欲給予的瑕疵名稱，再按下[新增瑕疵]，會
出現確認視窗。選擇[是]，即完成設定新瑕疵；選擇[否]，則不會設定新瑕疵。
若設定邏輯的檢測框是位於 IC 腳上的檢測框，則系統會詢問是否要將邏輯複製
到其他 IC 腳上相對應的檢測框上，若有需要請按[是]，系統將會出現視窗告知複
製了多少個邏輯，請按[確定]。
改變瑕疵：可以改變瑕疵的邏輯或名稱。選取一瑕疵並編輯欲修改的部分(瑕疵名稱
或邏輯方程式)，接著按下[改變瑕疵]會出現確認視窗，確認後按下[是]即可改變瑕
疵的設定；若按[否]則不會進行改變的動作。
檢視：按下[檢視]按鈕可以把[邏輯]文字方塊中有關的檢測框在圖上用紅色顯示出來。
4.9.8.2 屬性
在此可以設定檢測框屬性的參數，屬性設定說明如下：
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TR7700 SII User Guide–Software 353
(pin-1)：表示選擇的檢測框檢測的 IC 腳的號碼，若為-1 表示此檢測框不檢測任何
IC 腳。
元件型式：顯示元件的封裝形式。
名稱：顯示選擇的檢測框名稱。
角度：顯示此元件的角度。若本顆元件角度錯誤可在此直接修正。
X：顯示檢測框中心點所在的 X 方向座標位置，以元件本體框中心位置為原點，向
右為正。
Y：顯示檢測框中心點所在的 Y 方向座標位置，以元件本體框中心位置為原點，向
上為正。
DX：顯示檢測框水平方向的長度，單位為 um。
DY：顯示檢測框垂直方向的長度，單位為 um。