TR7700_SII_Software_ch_v4-6.pdf - 第505页
Test Research Inc. TR 7700 S II User Guid e – Softwar e 491 FPY Yield – 檢測為正常板數量 / 電路板總數 *100% FPY DPPM ： [( 確認為不良的元件數 )/ 總元件數 ]*1000000 FPY DPMO ： [( 確認為不良的檢測框數 )/( 電路板總數 * 板子的總檢測框 數 )]*1000000 # ：點選本按鈕，會出現空白欄位供…
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Repair mode：勾選表示與維修站連結，顯示維修站經確認後回傳的統計結果。
使用此功能維修站須配合將[Setting/Other/SPCOutPut]選項設定為[True]。若要
顯示 DPMO 欄位，須在維修站端以[Window]模式 Confirm 資料。
PPY Yield：(檢測為正常板數量+誤判的板數)/電路板總數*100%
PPY DPPM：[(確認為不良的元件數+誤判的元件數)/元件總數]*1000000
PPY DPMO：[(確認為不良的檢測框數+誤判的檢測框數)/(電路板總數*板子上
總檢測框數)]*1000000
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TR7700 SII User Guide–Software 491
FPY Yield –檢測為正常板數量/電路板總數*100%
FPY DPPM：[(確認為不良的元件數)/總元件數]*1000000
FPY DPMO：[(確認為不良的檢測框數)/(電路板總數*板子的總檢測框
數)]*1000000
#：點選本按鈕，會出現空白欄位供使用者自行輸入檢測的[電路板總數]、[瑕疵
板數量]及[檢測錯誤數量]。輸入完成後再按[#]按鈕一次即完成設定，系統會將
設定的數字帶入統計結果欄位中。
檢測時間欄位：顯示檢測次數、總檢測時間及尋找定位點的時間。
樹狀圖瑕疵列表：列出瑕疵元件的詳細錯誤內容。
元件名稱 (類型) 瑕疵種類 [瑕疵參數 檢測分數/檢測參數]
展開
檢測框名稱 瑕疵種類 [瑕疵參數 檢測分數/檢測參數]
Fail Rank–將元件發生瑕疵的排名列出來。可選擇依元件或依類型列出不良排序。若在
登錄檔中([開始/執行]鍵入[regedit]後按[確定]，
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[HKEY_LOCAL_MACHINE\SOFTWARE\TRI]路徑下)，參數值[SaveTop10FailImage]設
定為 1 時，系統會儲存前 10 名不良元件上一次檢測為不良的影像。可直接點選元件
名稱，在 FOV 影像區域檢視儲存的影像。
Fine Tune Mode：切換至顯示[Fine Tune Mode]。
不顯示統計結果(Disable Yield Count)：不顯示出統計結果欄位