TR7700_SII_Software_ch_v4-6.pdf - 第414页
Test Research Inc. 400 TR 7700 S II User Guid e – Softwar e low<level<=high, level>high, level<=low ：設定檢測範圍（介於設定的灰界範圍 內、大於設定大於範圍上限，或者設定小於範圍下限。 Defect Pixel Count ：系統會將符合灰階門檻值設定範圍內的畫素 (pixel) 標示出來， 並將其中相鄰的…
Test Research Inc.
TR7700 SII User Guide–Software 399
要新增此檢測框需在 Train 模式下，把萬用框移動到所要量測區域後，按下左下方的
[新增板彎框]功能才能增加；若要移除，按下[移除板彎框]。
4.10.2.10 Extra Blob
可用來檢測表面刮傷、髒污與 IC 翹腳。
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
Threshold low/ high：設定灰階門檻值範圍。使用者可以藉由調整圖層權重來提升
檢測效果。
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400 TR7700 SII User Guide–Software
low<level<=high, level>high, level<=low：設定檢測範圍（介於設定的灰界範圍
內、大於設定大於範圍上限，或者設定小於範圍下限。
Defect Pixel Count ：系統會將符合灰階門檻值設定範圍內的畫素(pixel)標示出來，
並將其中相鄰的畫素視為同一群組。使用者可以設定當群組畫素數量高過或者低於
多少才判定為缺陷。若填入數值為 10<=Defect Pixel Count<2500 表示，若檢測出的
的群組畫素數量介於 10~2500 時，才會判定為缺陷。
Principal axis aspect ratio>：若抓出群組的長寬比大於或小於所輸入的值的話才
視為缺點。若輸入 0 表示此項目不檢測。
change to <：勾選本選項時，[Principal axis aspect ratio]參數的定義會改為小於，
即群組的長寬比小於所輸入的值的話才視為缺點。
Defect Size(um)：設定判定為 Fail 的 Defect 長邊數值(um)。需搭配 DefectNumner
使用。
DefectNumber ：設定在設定 Defect Size 內的缺陷數量容許值。需搭配 Defect
Size(um) 使用。
Short-Side Size：將 Defect Size 群組計算由長邊改為短邊長度計算。
4.10.2.11 Edge Window
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
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TR7700 SII User Guide–Software 401
門檻值：相臨 pixel 之灰階差異門檻值。
Pixel Count：設定畫素門檻值。當檢測框範圍內合乎條件的畫素總數大於這個值，
則顯示 Fail。
4.10.2.12 Color Window
檢測所選取的範圍內是否達到所設定的 RGB 灰階分布比例。可用來檢測灰階差異不明
顯但某一 RBG 顏色差異大的位置，例如銅箔，元件的空焊及缺件。