TR7700_SII_Software_ch_v4-6.pdf - 第506页

Test Research Inc. 492 TR 7700 S II User Guid e – Softwar e [HKEY_LOCAL_MACHINE\SOFTWARE\TRI] 路徑下 ) ，參數值 [SaveTop10FailImage] 設 定為 1 時，系統會儲存前 10 名不良元件上一次檢測為不良的影像。 可直接點選元件 名稱，在 FOV 影像區域檢視儲存的影像。 Fine Tune Mode ：切換至顯示 [Fine…

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Test Research Inc.
TR7700 SII User Guide–Software 491
FPY Yield –檢測為正常板數量/電路板總數*100%
FPY DPPM：[(確認為不良的元件數)/總元件數]*1000000
FPY DPMO：[(確認為不良的檢測框數)/(電路板總數*板子的總檢測框
數)]*1000000
#：點選本按鈕，會出現空白欄位供使用者自行輸入檢測的[電路板總數]、[瑕疵
板數量]及[檢測錯誤數量]。輸入完成後再按[#]按鈕一次即完成設定，系統會將
設定的數字帶入統計結果欄位中。
檢測時間欄位：顯示檢測次數、總檢測時間及尋找定位點的時間。
樹狀圖瑕疵列表：列出瑕疵元件的詳細錯誤內容。
元件名稱 (類型) 瑕疵種類 [瑕疵參數 檢測分數/檢測參數]
展開
檢測框名稱 瑕疵種類 [瑕疵參數 檢測分數/檢測參數]
Fail Rank–將元件發生瑕疵的排名列出來。可選擇依元件或依類型列出不良排序。若在
登錄檔中([開始/執行]鍵入[regedit]後按[確定]，
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492 TR7700 SII User Guide–Software
[HKEY_LOCAL_MACHINE\SOFTWARE\TRI]路徑下)，參數值[SaveTop10FailImage]設
定為 1 時，系統會儲存前 10 名不良元件上一次檢測為不良的影像。可直接點選元件
名稱，在 FOV 影像區域檢視儲存的影像。
Fine Tune Mode：切換至顯示[Fine Tune Mode]。
不顯示統計結果(Disable Yield Count)：不顯示出統計結果欄位
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TR7700 SII User Guide–Software 493
重置統計結果(Reset Yield Count)：將統計結果欄位的數據歸零。
不顯示統計結果(Disable Fail Count)：不顯示出瑕疵板統計欄位。
重置統計結果(Reset Fail Count)：將瑕疵板統計的統計數據歸零。
顯示檢測/顯示錯誤(Display Test/Display Fail)：圖示區顯示[TEST]圖樣亦或[PASS]、
[FAIL]圖樣。
儲存專案(Save .pre)：儲存程式
確認正常板(Confirm PASS)：確認這片板子為通過。
確認瑕疵板(Confirm FAIL)：確認這片板子為缺陷板。
結束(Close&Stop)：關閉檢測視窗。
可在[C:\aoi]資料夾下加入[dbc.bmp]使得在檢測 Fail 的時候，在結果視窗上的
[TEST]圖樣顯示成[dbc.bmp]的圖。此功能須配合在結果視窗中使用[顯示檢測]選項。