CUS1_ProgramingTool.pdf - 第71页
1-58 1 N、O:料架号码的开始、结束 设置元件装在收纳柜 ( 料架收纳部 ) 的 ×× 号〜 ×× 号料架中。例如 ： 元件装在 No.3、No.4、No.5 的料架中时，在「料架 号码开始」栏中输入「3」 ， 「料架号码结束」栏中输入「5」 。 料架号码的开始/结束 3 4 5 65137-S1-00 P: 料架号码当前位置 指定从收纳柜的第几号料架开始吸附元件。一般输入「料架号码开始」中设置的数值， 此值会根据使用的料架同…
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X
Y
托盘原点
料架原点
料架、托盘原点
料架抽出部
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G、H:托盘数量 X、Y
设置料架的 X、Y 方向各装入的托盘张数。
例 ：如下图 A 所示，「托盘数量 X」输入「2」，「托盘数量 Y」输入「1」。如下图 B 所示，「托盘数量 X」输入「1」，「托盘
数量 Y」输入「2」。
I、J:托盘间距 X、Y(mm)
设置以多少 mm 的间隔，将托盘排列在料架上。
例：如下图 A 所示，「托盘间距 X」输入「150.00」，「托盘间距 Y」输入「0.00」。如下图 B 所示，「托盘间距 X」输入「0.00」，
「托盘间距 Y」输入「100.00」。只有 1 枚托盘时，在「托盘间距 X」「托盘间距 Y」中都输入「0.00」。
K、L:托盘当前位置 X、Y
指定从料架的原点 ( 参照「当前位置 X」「当前位置 Y」) 数起的第几列、第几行的托盘开始吸附元件。一般「托盘当前位置 X」、
「托盘当前位置 Y」都输入「1」，输入「1」后，从距离料架原点最近位置的托盘开始吸附元件。
参考
在外部托盘交换器及自动托盘交换器的吸附位置「Xmm」「Ymm」中输入料架原点至吸附位置的距离。
A B
150.00
100.00
1, 1
1, 1
1, 2
2, 1
托盘
料架原点
托盘当前位置X 托盘当前位置Y
托盘数量/托盘间距
65135-S1-00
M: 托盘厚度 (mm)
输入托盘的厚度 (mm)。
B
A
元件
托盘
托盘厚度＝A－B
托盘厚度
65136-S1-00
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N、O:料架号码的开始、结束
设置元件装在收纳柜 ( 料架收纳部 ) 的 ×× 号〜 ×× 号料架中。例如 ：元件装在 No.3、No.4、No.5 的料架中时，在「料架
号码开始」栏中输入「3」，「料架号码结束」栏中输入「5」。
料架号码的开始/结束
3
4
5
65137-S1-00
P: 料架号码当前位置
指定从收纳柜的第几号料架开始吸附元件。一般输入「料架号码开始」中设置的数值，此值会根据使用的料架同步自动更新，
因此可以确认当前正在使用第几号料架。
Q: 料架间距 Z
指定 ATS 和 YTF 的料架以几重间距插入收纳柜中。
「标准」 ：标准间距。
「双重间距」 ：标准间距的 2 倍。
「三重间距」 ：标准间距的 3 倍。
R: 计数结束时停止
如设置为「执行」，用完设置的元件个数后，贴片机会自动停止运行。如设置为「不执行」，用完设置的元件个数后，会返回
最初的位置继续吸附元件。一般设置为「不执行」。
● 设置为晶片托盘时的参数
「基本」选项卡
托盘参数
晶片托盘的「基本」选项卡
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A: 晶片吸嘴类型
选择适合晶片元件尺寸的吸嘴。
B: 晶片阵列
选择适合的类型。
· 无
供给晶片元件时，只使用坐标信息，不使用个数信息。
这是最常用的方法，一般都使用此方法。
· 有
供给晶片元件时，既使用坐标信息又使用个数信息。只有晶片搜索直径所构成的圆与由个数信息和间距所构成的矩形相重
叠的部分才是吸附的对象。
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· 蜂窝状
使用蜂窝状托盘用料架时选择。
· 分布图
使用晶片分布图时选择。
C: 晶片搜索直径 (mm)
输入晶片的搜索直径。
以此搜索直径所构成的圆为基准，查找元件时只有元件中心进入此圆内的晶片才是查找对象。
D: 晶片环直径
输入晶片料架的环状部分 ( 扩展盘指它的环状部分 ) 的内径。
此内径用于防止推顶器装置和环状部分相碰撞的计算。但，因机器会自动判断料架类型，所以会比较各料架类型的规定值与
此晶片环直径，采用其中较小的值。
晶片搜索直径、晶片环直径
晶片搜索直径
晶片环直径
65138-S1-00
E: 晶片角度 (deg)
输入晶片的切片线与晶片轴之间的角度。利用相机进行测量时，使用 [ 角度示教 ] 按钮。
F、G:元件间距 X、Y(mm)
输入元件以多少 mm 的间隔排列。
如使用相机进行测量时，按 [ 间距示教 ] 按钮。以下图为例作简单说明。
2.将光标对准始点的元件中心，按 [ 始点 ] 按钮。
3.将光标对准终点的元件中心，按 [ 终点 ] 按钮。
由此，元件间距便会自动输入。
H: 料架号码
指定从收纳柜的第几号料架开始吸附元件。一般输入在「料架号码开始」中设置的数值。此数值会随使用的料架同步自动更新，
因此可以确认当前正在使用第几号料架。
I: 元件识别用标记
指定为检出元件中心用的标记数据的号码。
J: 元件标记重新执行
如有些元件无法执行为检出元件中心的识别时，可以指定需连续不停地跳过多少个此类元件。
K: 坏板标记识别用标记
指定为检出元件上的坏板标记用的标记数据号码。坏板标记的识别，以在元件识别中检出的中心位置为基准进行。
L: 坏板标记重新执行
指定需连续不停地跳过多少已检出坏板标记的元件。