KE2040取扱説明書Ver.2.01和文Rev.04.pdf - 第186页
4 - 81 ◇ ＜設定＞ボタンをクリックすると、検査データ設定ダイアログが表示されます。 検査 ｺﾌﾟﾗﾅﾘﾃｨ 検査をするかしないかを選択します。 判定値 判定値を設定します。 幅 電 極 ｻｲｽﾞ の幅を設定します。 電 極 ｻｲｽﾞ 長さ 電 極 ｻｲｽﾞ の長さを設定します。 電極光沢情報 電極光沢情報を設定します。 通常 光沢あり 光沢なし 電極明るさしきい値 電極明るさのしきい値を設定します。 ﾚｰｻ…
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4-7-7. タックコントロール部（検査ページ）
タックコントロール部（検査ページ）タックコントロール部（検査ページ）
タックコントロール部（検査ページ）
① チップ立ち
チップ立ち検出オプションを“使用するか否か”の設定を＜ラジオ＞ボタンで指定
します。
「する」、「あればする」を指定した場合は、判定値と
して「高さ」を入力 してください。
「あればする」を選択した場合、チップ立ち検出があれ
ば検出が行われます。
② コプラナリティ（
（（
（KE-2020,2040のみ適用）
のみ適用）のみ適用）
のみ適用）
ＩＣ部品のリード浮きの検査を“行うか否か”を＜ラジオ＞ボタンで設定します｡
｢する｣を指定した場合、<設定>ボタンが有効になりま
すので、コプラナリテイ検査データを入力して下さい。
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◇ ＜設定＞ボタンをクリックすると、検査データ設定ダイアログが表示されます。
検査 ｺﾌﾟﾗﾅﾘﾃｨ検査をするかしないかを選択します。
判定値 判定値を設定します。
幅 電極ｻｲｽﾞの幅を設定します。 電極ｻｲｽﾞ
長さ 電極ｻｲｽﾞの長さを設定します。
電極光沢情報 電極光沢情報を設定します。
通常
光沢あり
光沢なし
電極明るさしきい値 電極明るさのしきい値を設定します。
ﾚｰｻﾞ強度 ﾚｰｻﾞの強度を設定します。
測定高さｵﾌｾｯﾄ 測定高さのｵﾌｾｯﾄを設定します。
ｽｷｬﾝ位置ｵﾌｾｯﾄ ｽｷｬﾝ位置のｵﾌｾｯﾄを設定します。
AGC補正値 AGCの補正値を設定します。
測定ﾓｰﾄﾞ 測定のﾓｰﾄﾞを設定します。
自動設定
標準測定ﾓｰﾄﾞ
高精度測定ﾓｰﾄﾞ
＜OK＞ボタンで設定、＜キャンセル＞ボタンで取り消します。
◆ BGA、FBGA では、電極サイズの幅、長さ、電極光沢情報、スキャン位置オフセットの設
定はできません。
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③ ベリファイ
抵抗値、容量、極性を検査するか否かをラジオボタンで設定します。
「抵抗値」または「コンデンサ容量」を指定した場合は、判定値・単位・許容誤差
の上限／下限を入力してください。
単位の入力は、入力領域でトラックボールの右ボタンをクリックすることにより下
図のようなポップアップメニューが表示されます。
◇ 極性を指定した場合は、入力領域でマウスの＜右＞ボタンをクリックすることにより
方向が選択できます。
◇ ベリファイ検査が、“する”に指定されていたものが、他のデータを変更するこ
とにより仕様外となる場合は、下記のダイアログが表示されます。
④ 異部品判定
異部品判定を行うか否かをラジオボタンで指定します。
「あればする」を選択した場合、判定が行われます。
「する」が選択された場合は、判定が行われます。
⑤ ＳＯＴ方向
ＳＯＴ方向検査を“行う”か “否か”をラジオボタンで設定します。
部品種が、ＳＯＴの場合のみ選択可能となります。
「する」が選択された場合は、分割先ステーションが検査可能ステーションであれば、Ｓ
ＯＴの方向検査を行います。
注意事項
注意事項注意事項
注意事項：
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リードの有る部品は、基準サイズの入力に注意してください。部品外形寸法は、リ
ード先端迄の縦・横サイズを指定しますが、異部品判定フィールド内の基準サイズ
は、レーザが当たる面の横・縦寸法になります。